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Leica DCM8 徠卡光學表面測量系統(tǒng)顯微鏡金相顯微鏡

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更新時間：2023-07-26 09:35:19瀏覽次數(shù)：901次

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圓派科學儀器（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	進口	產(chǎn)品新舊	全新
結構形式	正置式	配備圖像分析系統(tǒng)	是

Leica DCM8 徠卡光學表面測量系統(tǒng)顯微鏡，設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。

詳細介紹

Leica DCM8 白光共焦干涉/光學表面測量系統(tǒng)

Leica DCM8 白光共焦干涉/光學表面測量系統(tǒng)

設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現(xiàn)超快速的分析操作。可通過各種規(guī)格的徠卡物鏡、電動載物臺和鏡筒來對系統(tǒng)進行配置，以便*適用于您的樣本。為滿足客戶的文檔創(chuàng)建需求，徠卡DCM8包括1個高清CCD攝像頭和4個LED光源（RGB和白色）能夠提供鮮明的真彩成像效果。

性能與優(yōu)點

Get the Full Picture!

光學表面測量系統(tǒng) Leica DCM8

精確和可重復性

您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌？使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。

快速捕捉表面數(shù)據(jù)

Leica DCM8采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術。由于傳感器頭部未使用運動部件，因此設備能夠?qū)崿F(xiàn)快速和可重現(xiàn)的捕捉數(shù)據(jù)。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區(qū)域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。

Leica DCM8 徠卡光學表面測量系統(tǒng)顯微鏡

能夠有效地對結構進行分析

我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8設備。配方方案，多樣本和統(tǒng)計分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執(zhí)行更為復雜的三維測量任務？那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統(tǒng)的測量功能。

很容易匹配您的樣本

能夠?qū)eica DCM8進行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質(zhì)物鏡。對于大尺寸樣本來說，從我們的可調(diào)整鏡筒和電動載物臺系列中進行選擇。除此之外系統(tǒng)還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。