新品發(fā)布！飛納電鏡帶你走進掃描電鏡 AI 智能時代！

“隨著科技的飛速發(fā)展，電子顯微技術(shù)已成為科研和工業(yè)領域的重要工具。多年來，飛納不斷推出具有創(chuàng)新性和競爭力的產(chǎn)品，贏得了全球用戶的廣泛贊譽。飛納電鏡始終秉持創(chuàng)新精神，不斷突破技術(shù)壁壘，為全球用戶帶來更加先進、高效的產(chǎn)品。”

一直被模仿！飛納電鏡煥新賦能中國科研，自從臺式場發(fā)射問世，備受好評，目前臺式場發(fā)射又有新突破，飛納臺式場發(fā)射掃描透射一體機——Pharos STEM，掃透模式下分辨率突破 1nm，為臺式掃描電鏡解鎖更多應用！

今日我們榮幸地宣布，飛納臺式掃描電鏡技術(shù)再次實現(xiàn)重大突破，將帶掃描電鏡行業(yè)進入全新的 AI 智能時代！掃描電鏡，不止是一臺電鏡！

飛納電鏡，不止是掃描電鏡！

一起來解鎖飛納電鏡新技術(shù)！

Part.1  Phenom MAPS 系統(tǒng)

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統(tǒng)會像地圖一樣，通過層級的方式，實現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲模式。并且，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

這里是一個地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果，Phenom MAPS 可以實現(xiàn)對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù)，以方便進行離線分析。

Part.2  ChemiSEM 技術(shù)

一鍵點擊，掃描電鏡也有“彩色照”啦！

在 SEM 成像同時也可以實時收集 EDS 能譜信號，無需反復切換成像和分析模式，可以快速獲取樣品的成分信息。

Phase Mapping 技術(shù)相分布更直觀

在使用能譜檢測樣品的同時，可顯示出不同相在樣品中的分布情況，使得物相分布直觀可見，同時具有相歸類，計算相比例等功能，非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領域的測試分析。

即使沒有豐富的經(jīng)驗，也能定位微量和痕量元素。 完整全面的分析，明確無誤地識別主要和次要組分，直至單個像素級別。在峰重疊導致重要元素模糊不清的情況下，定位組分。只需極少量的 X 射線數(shù)據(jù)即可開始相態(tài)判斷。即使是復雜的相圖，也能在不到一分鐘內(nèi)完成。 

Phase Mapping 自動給出相分布結(jié)果

Part.3  Avizo Trueput 軟件

為您的電池質(zhì)量保駕護航！

專門為電池質(zhì)控而研發(fā)的，為您帶來自動化的電池質(zhì)量控制和檢測的創(chuàng)新型解決方案。開發(fā)此軟件時充分考慮到生產(chǎn)車間的需求，Avizo Trueput 軟件可以幫助您縮短 QA/QC 檢測時間，而且操作非常簡單: 使用飛納電鏡獲取圖像后，選擇用于自動檢測的分析方式，一鍵自動生成您的檢測報告，使您可以在生產(chǎn)現(xiàn)場輕松獲取可重復的結(jié)果。

Part.4 CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

新品發(fā)布會直播預告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學網(wǎng)絡會議，重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應用案例！

“第十屆電子顯微學網(wǎng)絡會議（iCEM 2024）”結(jié)合目前電子顯微學主要儀器技術(shù)及應用熱點，邀請業(yè)界電子顯微學專家、電子顯微學儀器技術(shù)專家、電子顯微學應用專家等，重點邀請近來有重要工作成果進展的優(yōu)秀青年學者代表線上分享精彩報告。

iCEM 2024

復納科學儀器（上海）有限公司應用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布：飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時間：2024 年 6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報名預約觀看。

歡迎您隨時聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品詳情和應用案例