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TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡 測(cè)量、工具顯微鏡

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更新時(shí)間:2023-09-26 09:21:43瀏覽次數(shù):920

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TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡(1)TESCAN UniTOM X射線CT顯微鏡配置靈活,可根據(jù)用戶的需求組合功能模塊,大限度的提高圖像質(zhì)量、分辨率和分析速度; (2)在概覽圖上可自由選擇感興趣區(qū)域進(jìn)行實(shí)時(shí)縮放,獲得孔隙結(jié)構(gòu)和礦物的細(xì)節(jié)信息; (3)500nm的真實(shí)空間分辨率,并且適用于多種類型和尺寸的樣品,可分析的樣品大直徑40cm, 大高度50cm;

詳細(xì)介紹

TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡

TESCAN UniTOM 是一款靈活的高分辨率 X 射線 CT 系統(tǒng),可針對(duì)特定應(yīng)用量身定制,以大限度地提高圖像質(zhì)量和分辨率??商峁┎煌渲?,從單一來源檢測(cè)器配置到具有多個(gè) X 射線源和檢測(cè)器的更靈活的系統(tǒng)。

TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡主要優(yōu)勢(shì)
※ 根據(jù)用戶需求定制
UniTOM 是一款配置靈活的高分辨 X 射線 CT 顯微鏡,可根據(jù)用戶的需求組合功能模塊,大限度的提高圖像質(zhì)量、分辨率和分析速度。
※ 感興趣區(qū)域的直觀觀測(cè)
可在概覽圖上選擇感興趣區(qū)域進(jìn)行實(shí)時(shí)縮放,獲得孔隙結(jié)構(gòu)和礦物的細(xì)節(jié)信息。
※ 亞微米級(jí)分辨率
UniTOM 可以獲得 500 nm 的真實(shí)空間分辨率,并且適用于多種類型和尺寸的樣品,可分析的樣品大直徑為 40 cm, 大高度 50 cm。
※ 模塊化設(shè)置
模塊化設(shè)計(jì),硬件模塊(如可附加的X射線源或探測(cè)器)可以輕松集成到系統(tǒng)中,方便用戶進(jìn)行硬件升級(jí)或更換單個(gè)硬件,進(jìn)而延長(zhǎng)系統(tǒng)的使用壽命。

模塊化靈活配置,分辨率小可達(dá) 500 nm

UniTOM 是一款多功能的亞微米 X 射線顯微 CT 系統(tǒng),可以達(dá)到小 500 nm 的真實(shí)空間分辨率。 該系統(tǒng)非常靈活,可處理多種樣品類型和尺寸,樣品大直徑可達(dá) 30 cm,高度可達(dá) 50 cm。UniTOM 具有模塊化設(shè)置,其中每個(gè)新組件硬件(例如附加的 X 射線源或檢測(cè)器)可以輕松集成到系統(tǒng)中,從而允許將來硬件升級(jí)或單個(gè)組件的簡(jiǎn)單替換, 延長(zhǎng) X 射線系統(tǒng)的使用壽命 。

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