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武漢華頂電力設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間:2019-11-16 09:24:01瀏覽次數(shù):460次
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大量供應(yīng)HDDL-A電力電纜故障測距儀廠在低壓脈沖方式下可以獨(dú)立使用;在脈沖電流方式下需要和高壓信號發(fā)生器配合使用;在多次脈沖方式下還須和電纜測試多次脈沖耦合器配合;在測距完成后須使用數(shù)字式多功能電纜故障定點(diǎn)儀進(jìn)行精確定點(diǎn)。它們共同組
HDDL-A電力電纜故障測距儀,用于電力電纜故障點(diǎn)的距離測量,具有波形易于識別、分辨率高、界面友好、同時(shí)支持觸摸按鍵和機(jī)械按鍵、易于操作等特點(diǎn)。
在低壓脈沖方式下可以獨(dú)立使用;在脈沖電流方式下需要和高壓信號發(fā)生器配合使用;在多次脈沖方式下還須和電纜測試多次脈沖耦合器配合;在測距完成后須使用數(shù)字式多功能電纜故障定點(diǎn)儀進(jìn)行精確定點(diǎn)。它們共同組成一套高性能的,能提供多種創(chuàng)新特性的電纜故障查找系統(tǒng)。
二、功能特點(diǎn)
1.多種測距方法:
低壓脈沖法:適用于低阻、短路、斷線故障的精確測距,還可用于電纜全長及中間接頭、T型接頭、終端頭的測量,以及波速度的校正。
脈沖電流法:適用于高阻、閃絡(luò)型故障的測距,使用電流耦合器從測試地線上采集信號,與高壓部分*隔離,安全可靠。
多次脈沖法:世界上*的測距方法,是二次脈沖法的改進(jìn)。波形明確易于識別,測距精度高。
2.200MHz實(shí)時(shí)采樣:
國內(nèi)同類儀器高采樣頻率,與高水平接軌。
提供高0.4m的測距分辨率,測量盲區(qū)小,對近端故障和短電纜特別有效。
3.觸摸操作和機(jī)械按鍵兩種操作方式
觸摸按鍵,操作更加靈活,具有手勢操作功能。
可以對光標(biāo)進(jìn)行拖拽,雙擊操作,定位更加簡單、方便。
兼容機(jī)械按鍵操作,五向按鍵,操作更加人性化。
4.LED大屏幕彩色液晶顯示,界面友好:
波形清晰,尤其在多次脈沖測試中,多個(gè)波形以不同顏色同時(shí)顯示,更易于識別。
7寸大屏幕液晶,160°可視角度,亮度達(dá)到750cd/m2,達(dá)到陽光可視要求。
功能菜單簡單實(shí)用,功能強(qiáng)大。
5.畫中畫暫存顯示功能
界面顯示采用畫中畫方式,由一個(gè)主窗口和三個(gè)暫存窗口組成,可同時(shí)查看三個(gè)暫存波形,使波形比較功能更加簡單、直觀、方便。
6.波形存儲、計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)通訊:
可在機(jī)內(nèi)存儲大量波形。
使用U盤進(jìn)行波形數(shù)據(jù)的導(dǎo)出。
可以和計(jì)算機(jī)(臺式機(jī)或筆記本機(jī))連接,進(jìn)行聯(lián)機(jī)通訊。
提供計(jì)算機(jī)后臺管理軟件,對U盤轉(zhuǎn)儲的數(shù)據(jù)或聯(lián)機(jī)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
7.電源管理:
儀器在2分鐘內(nèi)沒有任何操作時(shí),將減弱背光;10分種沒有操作,將自動(dòng)關(guān)機(jī),以減少電量消耗;當(dāng)電池欠壓時(shí),儀器也將自動(dòng)關(guān)機(jī),以保護(hù)電池。
內(nèi)置鋰離子電池,配有鋰電池充電器,提供可靠的充電方式。
工作時(shí)間長:使用充滿電的鋰離子電池,儀器能連續(xù)工作7小時(shí)以上(電池老化后使用使用時(shí)間會縮短)。
8.堅(jiān)固機(jī)殼,質(zhì)輕便攜。
三、技術(shù)指標(biāo)
1.工作模式:低壓脈沖、脈沖電流、多次脈沖。
2.信號增益調(diào)節(jié)范圍:70dB。
3.低壓脈沖發(fā)射電壓:32V。
4.高分辨率:0.4m。
5.大采樣頻率:200MHz實(shí)時(shí)采樣。
6.大測距范圍:100km。
7.測距盲區(qū):2m。
8.通訊接口:USB,藍(lán)牙(選配)。
9.電源:鋰離子電池組,標(biāo)稱電壓7.4V。
10.按鍵:采用丹麥進(jìn)口按鍵,可靠性不小于1千萬次。
11.電池供電時(shí)間:使用充滿電的聚合物鋰離子電池,可以連續(xù)使用7小時(shí)以上(隨著電池的老化,連續(xù)使用時(shí)間會相應(yīng)縮短)。
12.充電器:輸入AC220V,50Hz,充電電流1A,充電時(shí)間6小時(shí)。
13.體積:274×218×81mm
14.質(zhì)量:3.5kg
15.使用條件:
1) 溫度:-10℃~+40℃;
2) 濕度:5%~90%RH(25℃);
3) 海拔:h<4500m。
交流耐壓試驗(yàn)是電氣設(shè)備鑒定其絕緣好壞的直接的方法。它對于判斷電氣設(shè)備能否投入運(yùn)行有著決定性的意義,也是保證設(shè)備絕緣水平,避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。
由于其試驗(yàn)電壓比運(yùn)行電壓高,其屬于破壞性,因此之前必須測定絕緣電阻和吸收比,直流耐壓或經(jīng)tgδ測試合格。若有受潮或缺陷,應(yīng)先作干燥處理再耐壓。
交流耐壓試驗(yàn)對于設(shè)備內(nèi)部絕緣劣化有著累計(jì)效應(yīng),能使絕緣強(qiáng)度逐步衰減,因此,必須正確地選擇試驗(yàn)電壓大小和時(shí)間,Us越高,發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷的有效性更高,但被試品擊穿的可能性越大,積累效應(yīng)更嚴(yán)重。因此國家標(biāo)準(zhǔn)參照各種絕緣材質(zhì)和所能承受的過電壓倍數(shù),規(guī)定了出廠試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),而交接標(biāo)準(zhǔn)或預(yù)試標(biāo)準(zhǔn)的電壓低于出廠試驗(yàn)電壓,但比如支柱絕緣子等幾乎沒有累積效應(yīng),因此其試驗(yàn)電壓和出廠值幾乎一樣。
絕緣的擊穿電壓Uj 與加壓的持續(xù)時(shí)間有關(guān),隨時(shí)間的增加其Uj 下降,因此規(guī)定了一分鐘。這一方面是為了觀察被試品情況,使有缺陷的絕緣來得及暴露(固體絕緣發(fā)生擊穿需要一定的時(shí)間);另一方面不致于因?yàn)闀r(shí)間過長而引起的不應(yīng)有的絕緣損害。
交流耐壓試驗(yàn)的加壓方法一般有:一是工頻耐壓,包括用常規(guī)的交流試驗(yàn)變壓器和工頻串、并聯(lián)諧振試驗(yàn),可以對交流電動(dòng)機(jī)和發(fā)電機(jī)、絕緣子、斷路器、電流互感器等設(shè)備進(jìn)行;二是感應(yīng)耐壓試驗(yàn),如變壓器、電磁式電壓互感器等,采用從二次加壓使得一次側(cè)感應(yīng)高壓的方法,它不僅可以考驗(yàn)被試品的主絕緣(繞組對地、相間、相對地),還可以考驗(yàn)縱絕緣(同一繞組的層間、匝間),通常采用100~400HZ的倍頻進(jìn)行;三是沖擊電壓試驗(yàn),主要考驗(yàn)被試品耐受操作波過電壓和大氣過電壓下絕緣的承受能力,它分為操作波沖擊電壓試驗(yàn)和雷電沖擊電壓試驗(yàn)。
一般設(shè)備的選取和電壓的產(chǎn)生及測量:針對不同的被試設(shè)備,應(yīng)選取不同容量的耐壓裝置,因此首先必須計(jì)算電容電流,IC = ωCx Us,Us已有規(guī)定,而Cx要參閱資料或?qū)崪y。
在進(jìn)行發(fā)電廠和變電所的廠用系統(tǒng)比如CT和斷路器的交流耐壓時(shí),采用武漢華頂電力設(shè)備有限公司生產(chǎn)在YD-50KV / 6KVA的一套、而耐電動(dòng)機(jī)時(shí)則需要用YD-15KV/10KVA的較大容量的試驗(yàn)變、在300或600MW機(jī)組的主封閉母線的耐壓中,則應(yīng)采用一套YD-100KV/50KVA的裝置來進(jìn)行,其試驗(yàn)電壓的選取若封母中有CT時(shí)應(yīng)按照CT 的耐壓等級、而發(fā)電機(jī)、變壓器、電力電纜耐壓時(shí)應(yīng)用串、并聯(lián)諧振裝置則已經(jīng)非常方便,串、并聯(lián)諧振即電流諧大量供應(yīng)HDDL-A電力電纜故障測距儀廠振,回路中電容電流和電感電流相互抵消,使得總回路電流很小,則電源電纜的截面可小一些,其品質(zhì)因數(shù)Q可用試驗(yàn)電壓和被試電流的乘積除以調(diào)壓器的輸出電壓和電流的乘積得到,一般可達(dá)10~40左右,Q=XC/R,而回路中的限流電阻R應(yīng)盡量選小,否則調(diào)諧時(shí)很難達(dá)到諧振頻率;另外串聯(lián)諧振即電壓諧振,須采用激勵(lì)變壓器,而可調(diào)電感的耐壓等級應(yīng)和被試品一樣,因其串聯(lián)回路的電壓相互抵消,則激勵(lì)變的容量可降低Q 倍。至于試驗(yàn)電壓的測量,一般小電容量的被試品可只用變壓器低壓大量供應(yīng)HDDL-A電力電纜故障測距儀廠側(cè)電壓乘以變壓器變比即可得到,但大容量試驗(yàn)試品的試驗(yàn)電壓,還要考慮到容升效應(yīng)和被試電壓的有效可靠,高壓側(cè)電壓的測定必須用合格的高壓測試儀進(jìn)行,容升效應(yīng)即在交流耐壓時(shí)容性電流在繞組上產(chǎn)生漏抗壓降,造成實(shí)際用到被試品上的電壓值超過
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