通用的高性能SEM
Apreo掃描電子顯微鏡（SEM）的革命性復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸技術(shù)，可提供qian所未有的分辨率和信號(hào)選擇。這使得Apreo SEM成為研究納米顆粒，催化劑，粉末和納米器件的s選平臺(tái)，而不會(huì)影響磁性樣品的性能。
Apreo SEM得益于*的鏡頭后向散射檢測(cè)功能，即使在傾斜，短工作距離或敏感樣品上，也可提供出色的材料對(duì)比度。新型復(fù)合透鏡進(jìn)一步通過能量過濾提高了對(duì)比度，并

掃描電子顯微鏡

 

掃描電鏡

zui通用的高性能SEM

Apreo掃描電子顯微鏡（SEM）的革命性復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸技術(shù)，可提供qian所未有的分辨率和信號(hào)選擇。這使得Apreo SEM成為研究納米顆粒，催化劑，粉末和納米器件的shou選平臺(tái)，而不會(huì)影響磁性樣品的性能。

Apreo SEM得益于*的鏡頭后向散射檢測(cè)功能，即使在傾斜，短工作距離或敏感樣品上，也可提供出色的材料對(duì)比度。新型復(fù)合透鏡進(jìn)一步通過能量過濾提高了對(duì)比度，并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?，F(xiàn)在，可選的低真空模式具有500 Pa的zui大腔室壓力，即使是zui苛刻的絕緣子也可以成像。

通過所有這些選項(xiàng)，包括復(fù)合式zui終鏡頭，*的檢測(cè)和靈活的樣品處理，Apreo SEM的性能和多功能性將滿足您未來很多年的研究挑戰(zhàn)。

材料科學(xué)的Apreo SEM

 

新型Apreo掃描電子顯微鏡（SEM）可為包括納米粒子，金屬，復(fù)合材料和涂層在內(nèi)的多種材料提供性能，并結(jié)合了創(chuàng)新功能，以實(shí)現(xiàn)更好的分辨率，對(duì)比度和易用性。

• *的復(fù)合zui終透鏡在1 kV時(shí)可提供1.0 nm的出色分辨率，無需光束減速-在任何樣品上，即使它是傾斜或地形。
• zui有用的反向散射檢測(cè)-即使在低電壓和電子束電流，任何傾斜角度，電子束敏感樣品和電視速率成像下，材料對(duì)比度始終可用。
• 的檢測(cè)器靈活性-通過組合來自各個(gè)檢測(cè)器段的信息，獲得zui重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。