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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 質(zhì)譜儀

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更新時(shí)間:2023-10-18 09:23:54瀏覽次數(shù):712

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產(chǎn)品簡介

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。可以廣泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結(jié)構(gòu)信息。

詳細(xì)介紹

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)參數(shù):

. 并行探測所有離子,包括有機(jī)和無機(jī)分子碎片。
. 無限的質(zhì)量探測范圍(實(shí)際測量中大于1000m/z 原子量單位)。
. *透過率下實(shí)現(xiàn)高的質(zhì)量分辨率。
. *的橫向和縱向空間分辨率(橫向小于100納米,縱向小于1納米)。
. 探測靈敏度可達(dá)ppm或ppb量級。
. 質(zhì)量探測分辨率(M/ΔM) >1000
. 質(zhì)量探測準(zhǔn)確度 ≥20 milli 質(zhì)量單位
. 反射性分析器
. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達(dá)到真空工作環(huán)境

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜主要特點(diǎn):

.  超高的表面靈敏度(1x109 atoms/cm2)
·  操作簡單(? day training)
· 1 分鐘分析,樣品處理流程 <7分鐘
· 導(dǎo)體和絕緣體表面均可測試
· 可得到元素和分子信息
· 從元素中分離出普通有機(jī)物
· 正電和負(fù)電的 二次離子質(zhì)譜
· 同位素分析
· 分析面積 ~0.5 mm
·  濺射預(yù)清洗表面
· 提供材料數(shù)據(jù)庫

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