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X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀

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更新時(shí)間:2021-07-28 21:57:51瀏覽次數(shù):296

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產(chǎn)品簡介

簡介:利用X射線熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。 X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡單、快速、無損的鍍

詳細(xì)介紹

利用X射線熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。
      X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
       它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供:
•       無損分析:無需樣品制備
•       經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性,確保每年都帶來收益
•       操作簡單,只需要簡單的培訓(xùn)
•       分析只需三步驟
•       杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
•       在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
使用功能強(qiáng)大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
 產(chǎn)品優(yōu)勢
 高性能、高精度、長期穩(wěn)定性
 
•       快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本化
•       精確測定元素厚度
•       優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量
  堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
•       可靠近生產(chǎn)線或在實(shí)驗(yàn)室操作
•       生產(chǎn)人員易于使用
  簡單的校準(zhǔn)調(diào)試
•       在沒有標(biāo)準(zhǔn)片時(shí),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果
•       方法建立只需幾分鐘
•       我們提供認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片以確保精確度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
•       預(yù)置了多種校準(zhǔn)參數(shù)
 可分析多種樣品形狀和尺寸
•       可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件
•       提供多種硬件供選配,滿足各種需要 
 
行業(yè)及市場
電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)力
•       分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
•       測量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業(yè)- 電鍍表面處理的成本最小化,產(chǎn)量
•       多樣品和多點(diǎn)分析
•       單層或多層厚度測量
•       鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
•       黃金分析及其他元素測定
•       貴金屬合金檢測
 
X-Strata920 - 三種配置選項(xiàng)
 X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要:
固定樣品臺
 開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
平面樣品臺設(shè)計(jì),適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
 
加深樣品臺
 高度每英寸(25.4mm)可調(diào),架構(gòu)式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個(gè)樣品盤中任一個(gè)來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
 
程控樣品臺
 用于自動(dòng)化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品,并精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品,如印制線路板
樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬)

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