XS3DU電子分析天平 梅特勒電子天平 電子天平

XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平

具有的稱量性能，*基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平標準配置


內(nèi)置稱量應用程序

TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數(shù)設置

SmartTrac彩色動態(tài)圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差

可設置多達10個特定功能的快捷鍵

可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識

內(nèi)置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作

第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網(wǎng)，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件

手動開關門的玻璃防風罩

可更換的顯示屏保護蓋

下掛鉤稱量

具有過載保護的稱量傳感器

顯示多種質(zhì)量單位

差重稱量應用程序

計件和百分比稱量應用程序

統(tǒng)計應用程序

XS3DU電子分析天平 精密天平 電子天平 天平技術指標

極限值

XS3DU 雙量程

稱量值3.1 g

可讀性0.01 mg

稱量值0.8 g

可讀性0.001 mg

重復性(sd) - 加載處0.006 mg

- 低加載（加載處）0.005 mg (0.2 g)

重復性(sd) - 加載處0.001 mg

- 低加載（加載處）0.0008 mg (0.2 g)

線性*.004 mg

四角誤差（加載處）1)0.005 mg (2 g)

典型值 4)

典型重復性（sd）0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非線性（sd）√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角誤差（sd）1.2 x (10–6)•R_nt

典型靈敏度偏移（sd）2)3 x (10–6)•R_nt

典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型穩(wěn)定時間< 6 sec

穩(wěn)定時間< 10 sec

1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：

- 選擇適當?shù)姆Q量參數(shù)設置，

- 選擇合適的天平放置位置，

- 使用較小的去皮容器。