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總代理:IR-2雙波段發(fā)射率測(cè)試儀 、遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀
北京華瑞森科技發(fā)展有限公司總代理:IR-2雙波段發(fā)射率測(cè)試儀、遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀采用反射率法的測(cè)試原理,即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率,進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測(cè)量常溫樣品在3~5um、8~14um、1~22um三個(gè)波段發(fā)射率。對(duì)特殊需要的用戶,通過(guò)的控溫加熱裝置,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,進(jìn)行發(fā)射率變溫測(cè)量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。目前已在西北核技術(shù)所,東南大學(xué)等單位使用。
儀器特點(diǎn):
1.儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,采用六位高精度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍,而且*地提高了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用了*的光學(xué)調(diào)制技術(shù),使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.在儀器設(shè)計(jì)中,考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差,除鏡反射(MR)探測(cè)通道外,還增設(shè)了專(zhuān)門(mén)的漫反射(DR)補(bǔ)償通道,從而確保了儀器的測(cè)量精度。
4.在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù),較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè),進(jìn)一步提高了儀器性能。
5.本儀器操作簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量快速。
6.可按需更換濾光片,在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
7.在測(cè)量過(guò)程中不損傷被測(cè)樣品。
8.本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要技術(shù)指標(biāo)
1.測(cè)量波段:3~5um、8~14um、1~22um
(若用戶有特殊要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測(cè)量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02 (ε>0.50)
5.重復(fù)性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(特殊用戶為常溫~300℃)
7.樣品尺寸:Ф50mm
8.測(cè)量時(shí)間:3秒后按測(cè)量鍵E,即顯示ε測(cè)量值。
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電 源: 交流220V 50HZ
北京華瑞森科技發(fā)展有限公司
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