X線機(jī)性能測(cè)試模體

QUART SP-dl X線機(jī)性能測(cè)試模體專門應(yīng)用于在數(shù)字和傳統(tǒng)x射線領(lǐng)域（從DR,CR到X線透視設(shè)備）的QA / QC常規(guī)測(cè)試。只需一次曝光就可以收集到所有確定x射線系統(tǒng)成像質(zhì)量所需的參數(shù)。曝光后,測(cè)試圖像可進(jìn)行視覺(jué)評(píng)估。
QUART SP-dl 模體符合電工技術(shù)委員會(huì)，德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-150和德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-4和IPEM,奧地利，PN-EN標(biāo)準(zhǔn)

QUART SP-dl QA/QC X線機(jī)性能測(cè)試模體

QUART SP-dl                                             產(chǎn)品編號(hào)：12204

QUART SP-dl升級(jí)版                                       產(chǎn)品編號(hào)：12205

SP-dl KV校準(zhǔn)測(cè)試板                                      產(chǎn)品編號(hào)：12204K

 

 

 

QUART SP-dl 模體專門應(yīng)用于在數(shù)字和傳統(tǒng)x射線領(lǐng)域（從DR,CR到X線透視設(shè)備）的QA / QC常規(guī)測(cè)試。只需一次曝光就可以收集到所有確定x射線系統(tǒng)成像質(zhì)量所需的參數(shù)。曝光后,測(cè)試圖像可進(jìn)行視覺(jué)評(píng)估。
QUART SP-dl 模體符合電工技術(shù)委員會(huì)，德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-150和德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-4和IPEM,奧地利，PN-EN標(biāo)準(zhǔn)，及AFSSAPS的規(guī)定。

模體測(cè)試過(guò)程
   安裝初始設(shè)備建立視覺(jué)參考實(shí)現(xiàn)QC測(cè)試。從常規(guī)角度看來(lái),他們意味著系統(tǒng)成像能力的恒常性。任何成像性能的衰減都是由測(cè)試圖像的視覺(jué)評(píng)估來(lái)呈現(xiàn)的。QA / QC的模體一張圖像包含大量的信息?？涿揝P_dl還可以用作兒科模體(兒童模體),如果沒(méi)有額外的過(guò)濾,（例如鋁或壓克力 /銅）可應(yīng)用于QA / QC測(cè)試過(guò)程。

突出特性:kV穩(wěn)定性測(cè)試
模體的特殊功能是集成千伏測(cè)試設(shè)置。設(shè)置的千伏峰值輸出穩(wěn)定，可以定期監(jiān)控。
因?yàn)榍Х鼫y(cè)試板由兩種不同材料,2個(gè)被定義為特殊的輻射質(zhì)量的轉(zhuǎn)碼點(diǎn)。測(cè)試的單純視覺(jué)評(píng)估準(zhǔn)確性為 ±2千伏；當(dāng)使用亮度計(jì)(數(shù)字式)或感光計(jì)(膠卷式/屏幕式)測(cè)量時(shí),準(zhǔn)確性增加到 ± 0.5千伏。

技術(shù)參數(shù)
空間分辨率                       

低對(duì)比度分辨率                   

X射線照射野的*性  

影像均勻性

偽影、影像缺陷等

裝置穩(wěn)定

輻射質(zhì)量

劑量顯示

        

技術(shù)規(guī)格

內(nèi)部過(guò)濾                         1.5mm標(biāo)準(zhǔn)銅過(guò)濾

                                 17mm壓克力仿真模擬

梯形楔                           17階  厚度為0-3.5mm

低對(duì)比度分辨率                   8塊測(cè)試版（鋁；0.4-4mm；直徑15mm）

                                 附加 17塊測(cè)試板；每塊代表一級(jí)(直徑4mm)

高對(duì)比度分辨率                   線對(duì)卡（38條/鉛0.05mm/45度）

kV穩(wěn)定性                         *的KV測(cè)試板(Yb + Pb)

X射線照射野的*性             標(biāo)記視野范圍 

中心標(biāo)記                         標(biāo)記為不透明部分                                                                    

明顯標(biāo)記                         模體中心為均勻材質(zhì)區(qū)域                      

垂直放置                         可固定在墻上懸置使用

尺寸                             200*200*18.5mm（L*W*H）

大尺寸照射野                     33cm*33cm

                                                                     

配備軟件

QUART Konkord 2.0 X射線性能測(cè)試系統(tǒng)