詳細(xì)介紹
一.產(chǎn)品介紹:
HDH-100A回路電阻測(cè)試儀采用的大功率開關(guān)電源技術(shù)和電子線路精制而成。是高壓開關(guān)、電纜電線交直流接觸器及焊縫接觸電阻的測(cè)試儀器。其電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB736所*的100A/200A直流,可在100A/200A直流電流的情況下測(cè)得被試品的電阻值。本儀器具有體積小、重量輕、抗*力強(qiáng)、精度高、操作方便、保護(hù)功能完善等特點(diǎn)。
可定制到900A回路電阻測(cè)試儀
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):DL/T845.4-2004
二.技術(shù)參數(shù)
1.輸入電壓: AC220 V±20%,50HZ
2.輸出電流: DC 0~100A/200A連續(xù)可調(diào)
3.測(cè)試電流: DC100A/DC200A
4.精 度: 1.0級(jí)
5.分 辨 率: 0.1μΩ
6.測(cè)量范圍: 0~1999μΩ
7.顯示方式: 三位半表頭顯示電阻值,三位半表頭顯示電流值
8.具有過流、過壓、過熱保護(hù)功能
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如何測(cè)電力設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)其原理在前面已經(jīng)講過,tgδ是IR / IC的比值,它能反映電介質(zhì)內(nèi)單位體積中能量損耗的大小,只與電介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān),而與其體積大小尺寸均沒有關(guān)系。因此,tgδ的測(cè)試目的,也是能夠有效地發(fā)現(xiàn)設(shè)備絕緣的普遍老化、受潮、臟污等整體缺陷。對(duì)小電容設(shè)備,如套管、互感器(電容式)也能夠發(fā)現(xiàn)內(nèi)部是否存在氣隙及固定絕緣開裂等集中性的局部絕緣缺陷。
但要說(shuō)明一點(diǎn)的是,針對(duì)大電容的設(shè)備如變壓器、電纜等進(jìn)行tgδ的測(cè)量時(shí),只能發(fā)現(xiàn)他們的整體分布性缺陷,而其局部集中性的缺陷可能不會(huì)被發(fā)現(xiàn);而對(duì)于套管、互感器等小電容量的設(shè)備,測(cè)tgδ能有效地發(fā)現(xiàn)其局部集中性和整體分布性的缺陷,詳見如下分析。這也是大型變壓器不僅要單獨(dú)測(cè)試引出線套管的tgδ,也要測(cè)套管連同繞組的介損tgδ,就是因?yàn)樘坠苋粲腥毕輹r(shí)在整體絕緣良好時(shí)不能體現(xiàn)出來(lái)。
一般設(shè)備的絕緣結(jié)構(gòu)都由多層絕緣、多種材料構(gòu)成。如局部有缺陷絕緣用C 1 tgδ1表示,其他良好絕緣用C 2tgδ2表示,兩部分并聯(lián),則有P1 = C 1 tgδ1 P2 = C 2 tgδ2
而總的損耗為P = U2 ωC tgδ ①
U、ω一定時(shí),P與C、tgδ有關(guān), → P = C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2 又C = C1 + C2
則 C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2 = C tgδ
tgδ= (C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2)/(C1 + C2) ②
若套管電容C 1= 250PF,tgδ1= 5% (超差)
而變壓器電容C 2= 10000PF,tgδ2= 0.4% (良好)
從②式可以看出總tgδ= 0.5 % 福州市回路電阻測(cè)試儀生產(chǎn)工廠福州市回路電阻測(cè)試儀生產(chǎn)工廠 (合格),可見明顯形成了誤判斷。
設(shè)備的選取及常規(guī)試驗(yàn)方法:因?yàn)榫群挽`敏度的原因,測(cè)變壓器和一般套管的介損時(shí)(包括電容式CT),應(yīng)采用HD6000A光導(dǎo)介損測(cè)試儀,而當(dāng)測(cè)試電容式PT電容量和tgδ時(shí),可采用HD6000異頻介損測(cè)試儀,它介紹了CVT的中壓電容C 2 的測(cè)試方法,比較方便(自激法)。兩者的原理前者是通過比較內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)回路電流和被試品的電流的幅