inTEST ATS-710 高低溫測(cè)試機(jī)

上海伯東美國(guó) inTEST ATS-710-M 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理！溫度沖擊范圍：-80°C 至 +225°C；觸摸屏式控制面板，防靜電設(shè)計(jì)，具備自動(dòng)除霜功能。inTEST ATS-710-M 是舊款高低溫測(cè)試機(jī) Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升級(jí)款！~

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
上海伯東美國(guó) inTEST ATS-710-M 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理！溫度沖擊范圍：-80°C 至 +225°C；觸摸屏式控制面板，防靜電設(shè)計(jì)，具備自動(dòng)除霜功能。inTEST ATS-710-M 是舊款高低溫測(cè)試機(jī) Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升級(jí)款！~
Temptronic ThermoStream ATS-710-M 技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)	溫度范圍 °C	輸出 氣流量	變溫速率	溫度 精度	溫度顯示 分辨率	溫度 傳感器	遠(yuǎn)程 控制
ATS-710-M	-75至+225 50Hz -80至+225 60Hz	4 至18 scfm 1.8至 8.5l/s	-55至 +125°C 約 10 s +125至 -55°C 約 10 s	±1℃	±0.1℃	T型或 K型 熱電偶	IEEE 488 RS232

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 功能特點(diǎn)：
自動(dòng)升降溫：冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì)，制冷劑不含氟利昂、安全無(wú)毒、不易燃，有效保護(hù)環(huán)境；不需要液態(tài)氮?dú)猓↙N2）或液態(tài)二氧化碳（LCO2）冷卻
預(yù)防結(jié)霜：干燥氣流循環(huán)吹掃測(cè)試表面，防止水汽凝結(jié)(氣體流量0.5至3scfm)
自動(dòng)待機(jī)：空閑或加熱模式下，inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)自動(dòng)減少能耗
加熱除霜：快速去除冷凍機(jī)內(nèi)部積聚的水汽
觸摸屏幕控制面板：Windows® 系統(tǒng)
溫度顯示精度：±1℃(通過美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院NIST校準(zhǔn))
過熱溫度保護(hù)：出廠設(shè)置溫度 +230°C，操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)。
支持 Ethernet，IEEE-488，RS232；支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
配置 USB、鍵盤、鼠標(biāo)、打印機(jī)端口
熱流罩提供局限性的溫度測(cè)試環(huán)境，特別適合溫度沖擊測(cè)試；專 設(shè)計(jì)防止水氣在DUT上凝結(jié)

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 配置包含：
1、主機(jī) ATS-710-M
2、4.5或5.5 英寸熱流罩
3、耐高低溫密封墊
* 客戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇額外軟管和測(cè)試腔

ATS-710-M 高低溫測(cè)試機(jī)尺寸和重量:
尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
凈重 236 kg, 毛重 365 kg

與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比，inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)：
1、變溫速率更快
2、溫控精度：±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊)，可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試。
6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。

上海伯東美國(guó)inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用：
1、光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試：適用于40G/100G Transceiver

2、閃存高低溫測(cè)試：適用于Flash、EMMC