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英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量
上海伯東代理的英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量應(yīng)用, 某高校老師通過原子力顯微鏡進(jìn)行硅片表面形貌測量和表面粗糙度測量, 便于后續(xù)進(jìn)行拉曼增強(qiáng).
測試方法: 選用上海伯東英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡 ezAFM 進(jìn)行測試. 將樣品放置在樣品臺, 通過系統(tǒng)軟件自動控制.
原子力顯微鏡測試條件
圖像參數(shù) | ||
品牌 | 英國 NanoMagnetics | |
原子力顯微鏡型號 | ezAFM | |
模式 | 動態(tài)模式 | |
分辨率 ( pixels ) | 512 x 512 | |
懸臂類型 | ACLA from App Nano | |
Set RMS | 1.0 VRMS | |
Free RMS | 2.0 VRMS | |
原子力顯微鏡 ezAFM 性能
掃描范圍 | 120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm | |
模式 | 接觸模式, 動態(tài)力 / 相位成像模式, 側(cè)向力顯微鏡 LFM 和磁力顯微鏡 MFM 模式 | |
噪聲基底 | 65 fm √Hz | |
分辨率 | 2μm 集成光學(xué)顯微鏡 | |
全高清攝像機(jī) | 390x230μm, 2516x1960, pixels, 30fps, | |
樣品尺寸 | 10 x 10 x 5mm ( 可配置為不限制樣品尺寸 ) |
硅片表面形貌成像圖
硅片表面粗糙度成像圖
英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 制造商, 主營環(huán)境掃描探針顯微鏡 SPM, 低溫掃描探針顯微鏡 LT-SPM, 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)等, 原子力顯微鏡適用于產(chǎn)品表面特征分析, 生命科學(xué), 原位成像, 材料科學(xué), 薄膜等領(lǐng)域.廣泛應(yīng)用于牛津大學(xué), 斯坦福, 京都大學(xué), NASA 等學(xué)府和科研院所.
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