激光微地貌掃描儀

PLS Plus激光微地貌掃描儀

名稱：激光微地貌掃描儀         型號：PLS Plus         產(chǎn)地：美國

用途：PLS Plus是目前zui有效的測量土壤表面情況的儀器。實驗室和野外都可使用，沒有土壤類型限制。主要應(yīng)用于：風(fēng)蝕、水蝕地區(qū)研究，地表徑流研究，水土保持，土壤物理特性研究，研究種子播種，地理、地形統(tǒng)計分析，粗糙度研究，土壤濕度研究。
    與土壤粗糙度相關(guān)的各種現(xiàn)象，其重要性已經(jīng)越來越受到重視。PLS Plus使研究人員能夠有效地測量土壤表面輪廓的物理和水文特性。土壤表面的特定情況在農(nóng)業(yè)中起著基礎(chǔ)性的作用。對于持續(xù)影響農(nóng)業(yè)收成的各種因素，土壤表面地貌都起著重要作用。
    儀器可以用于評估土壤的水蝕和風(fēng)蝕情況以及水流的影響；用于研究表面水流、氣體交換和滲透；考察土壤保水能力，研究種床、地理統(tǒng)計、粗糙度、濕度等。
    確定土質(zhì)的物理和化學(xué)特性前后，分析土壤的性能總會受到因確定土質(zhì)物理和機(jī)械性能而導(dǎo)致的機(jī)械限制。用于評價zui初和zui終條件的手段，能夠得到土壤的高度、土壤濕度、表面規(guī)則性、宏觀孔性（土壤樣本中的顆粒尺寸分布）、粗糙度等這些參數(shù)。

原理：利用激光的反射與聚焦成象原理，將地表形態(tài)轉(zhuǎn)換成不同物象點位置的電信號，再經(jīng)計算機(jī)處理成數(shù)字地形模型。從而得出坡面侵蝕及溝蝕影響的結(jié)論。

技術(shù)規(guī)格：

上海點將精密儀器有限公司

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