各類探傷儀試塊

CSK-IA探傷儀試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的

主要用途有:

1、利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;

2、利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3、利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4、利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;

5、利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;

6、利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;

7、利用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

制作滿足3NB/T 47013-2015要求試塊以及中華人民共和國*規(guī)定探傷試塊可以根據要求特出定做，并配有檢定證書。