詳細(xì)介紹
測量顯微鏡 SGW-15J性能指標(biāo):
光學(xué)系統(tǒng)規(guī)格
物鏡 | 目鏡 | 顯微鏡 | 工作 距離 | 視場 直徑 | ||
放大倍數(shù) | 焦距 | 放大倍數(shù) | 焦距 | 放大倍數(shù) | ||
2.5×/0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.6 |
測量顯微鏡 SGW-15J測量工作臺(tái)讀數(shù)裝置主要規(guī)格
X軸遇到測量范圍50nm
Y軸遇到測量范圍13nm
測量器分度值:0.01nm
測量臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍不限:NO limit
測量臺(tái)刻度盤分度范圍:0°~360°
測量臺(tái)刻度盤之分度值:1°
測量臺(tái)刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值:6’
測量精度:儀器示值誤差:± (4+L/15)μ m
儀器示值誤差:包括測量誤差和系統(tǒng)誤差
注:測量地點(diǎn)溫度變化20℃ ±3℃,L--被測件長度