半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱因?yàn)闇囟葲_擊試驗(yàn)箱本來就是用于測試各種工業(yè)材料的結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)不同溫度的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在很短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因高溫及低溫的溫度沖擊所引起的物理傷害或化學(xué)變化，從而判斷它的壽命及性能變化。
型號(hào) | AP-CJ-50 | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | AP-CJ-250 | AP-CJ-1000 |
內(nèi)箱尺寸WxHxD（cm） | 35×35×40 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 100×100×100 |
外箱尺寸WxHxD（cm） | 以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn) | ||||
高低溫范圍 | （150℃~A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃）；：60℃~ 150℃；-10℃~-65℃；） | ||||
升溫時(shí)間（蓄熱區(qū)） | RT~200℃約需30min | ||||
降溫時(shí)間（蓄冷區(qū)） | RT~-70℃約需80min | ||||
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間／回復(fù)時(shí)間 | ≤10sec內(nèi)／≤5min內(nèi) | ||||
溫度控制度／分布度 | ±0.5℃／±2.0℃ | ||||
半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)機(jī)本設(shè)備滿足：GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫；GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。
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