高溫高濕測試箱適用于所有工業(yè)產(chǎn)品或原材料做高溫、低溫的可靠性試驗。對電工電子、航空航天、汽車摩托、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫恒定或（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。

高溫高濕測試箱技術(shù)參數(shù)：

一、工作室尺寸:500×600×500mm（W×H×D）更多尺寸可以選擇請咨詢業(yè)務(wù)員索取產(chǎn)品介紹目錄或者報價。

二、溫度范圍：

   1.溫度范圍:  0℃～150℃；-20℃～150℃；-40℃～150℃；-70℃～150℃（可任意選擇與設(shè)定）

三、升降溫時間：

   1. RT+10℃→150℃      約40分鐘（非線性空載，約3℃/分鐘）

   2. RT+10℃→-70℃      約90分鐘（非線性空載，約1℃/分鐘）

四、溫度誤差：

   1.解析精度：溫度：±0.1℃    

   2.控制精度：溫度:±0.3℃  

   3.分布精度溫度: ±1.0℃     100℃～150℃時:±1.5℃

滿足標準

1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則