BRUKER Dektak 8探針輪廓儀

      Dektak 8臺(tái)階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。*的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動(dòng)到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺(tái)階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點(diǎn)高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統(tǒng)對(duì)于MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。

主要特點(diǎn)：

1. 臺(tái)階高度測量重復(fù)性高
2. 是功能*強(qiáng)大的探針輪廓儀，可*限度的滿足各種應(yīng)用需要
3. 簡單易用
4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達(dá)200mm