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ImageXpress Micro 4 寬場高內(nèi)涵成像系統(tǒng)

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更新時間:2021-05-15 12:36:17瀏覽次數(shù):316

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產(chǎn)品簡介

ImageXpress Micro 4 高內(nèi)涵成像系統(tǒng)基于 30 多年積累的細(xì)胞成像經(jīng)驗(yàn)設(shè)計(jì)而成, 旨在提高性能, 可靠地加快您的研究進(jìn)度。結(jié)合 MetaXpress 高內(nèi)涵圖像采集和分析軟件, ImageXpress Micro 4 系統(tǒng)已儼然成為一種終端到終端的解決方案, 使您能夠解析圖像、了解數(shù)據(jù)并探索新的想法。

詳細(xì)介紹



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ImageXpressMicro4寬場高內(nèi)涵成像系統(tǒng)



ImageXpress Micro 4 高內(nèi)涵成像分析系統(tǒng)屬于第四代成像技術(shù)。新穎靈活的設(shè)計(jì),極快的操作速度用于完成實(shí)驗(yàn);還為您提供更多選擇,可以在未來需要時,將系統(tǒng)升級到共聚焦的成像水平。聯(lián)合使用 MetaXpress 系列高內(nèi)涵圖像獲取和分析軟件,ImageXpress Micro 4 系統(tǒng)以智能化、多維化和高通量篩選的方法,幫助您發(fā)現(xiàn)下一個重大突破。



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主要特點(diǎn)

● 能夠?qū)Ω鞣N標(biāo)本,各種規(guī)格和任意底壁的符合或不符合 SBS 標(biāo)準(zhǔn)的6-1536 多孔板,包括 Transwell 孔板進(jìn)行自動成像;且能對玻片、細(xì)胞芯片,組織陣列等用戶自制樣品通過低倍鏡預(yù)覽后,自定義樣品規(guī)格,在通過高倍鏡進(jìn)行高通量自動成像和數(shù)據(jù)分析。

科學(xué)級 sCMOS 是目前顯微成像檢測系統(tǒng)的檢測器。sCMOS 克服了 CCD 輸出速率底、電耗大的缺點(diǎn),同時也克服了原先 CMOS 噪音大、暗電流大的缺點(diǎn),是集高分辨率、高幀速、高量子效率、高靈敏度、高動態(tài)范圍、寬視場于一身的科學(xué)級影像探測器。(與固態(tài)光引擎光源結(jié)合,達(dá)到的成像效果)。

采用磁懸浮式技術(shù),速度快、精度高、無磨損、無熱疲勞。

激光硬件自動聚焦和軟件自動聚焦,兩種聚焦方式可相互結(jié)合,可單獨(dú)使用,亦可同時使用。應(yīng)用靈活,可適用于各種物鏡及樣品板。

采用相差物鏡,可對無熒光標(biāo)記的細(xì)胞進(jìn)行觀察及分析。其相差成像模塊能獲得更高對比度的無標(biāo)記圖像,且光源組件中具有相應(yīng)聚光鏡及相差環(huán)板支持無標(biāo)記相差成像,提供高對比圖像并進(jìn)行無標(biāo)記情況下的細(xì)胞識別和追蹤。

PowerCoreTM數(shù)據(jù)并行分析功能,能調(diào)用本地和網(wǎng)絡(luò)空閑的 CPU 線程資源,能提高圖像分析速度數(shù)倍。

通過簡單鼠標(biāo)操作即可分析復(fù)雜3D結(jié)構(gòu)中的各種實(shí)驗(yàn)參數(shù),搭配 MetaXpress 的自動 Z 軸層掃,3D 顯示和的 Best-focus 算法等功能,可使用多孔板實(shí)現(xiàn)流水線式的高通量 3D 拍攝和分析。



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應(yīng)用領(lǐng)域

從細(xì)胞,組織切片到小型模式動物均可用。ImageXpress Micro-4 系統(tǒng)獲實(shí)驗(yàn)需要的圖片和定量分析結(jié)果。能對細(xì)胞形態(tài)、生長、分化、遷移、凋亡、毒性、代謝途徑及信號轉(zhuǎn)導(dǎo)等方面進(jìn)行定量分析,適合以下研究方向:細(xì)胞生物學(xué),毒理學(xué),藥理學(xué),生理學(xué),遺傳學(xué)和組胚學(xué),神經(jīng)生物學(xué),腫瘤學(xué)等研究方向。


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實(shí)驗(yàn)舉例


Transwell 實(shí)驗(yàn)的批量動態(tài)觀察。

Transwell 侵襲實(shí)驗(yàn)原理:用一層帶有小孔的膜將成分不同的培養(yǎng)液隔開,細(xì)胞放在上層培養(yǎng)液里,由于下層培養(yǎng)液中相關(guān)成分的誘導(dǎo)作用細(xì)胞會從上層培養(yǎng)液中往下層培養(yǎng)液遷移。在膜上涂上一層基質(zhì)膠,模仿細(xì)胞外基質(zhì),于是細(xì)胞會將基質(zhì)消化后完成從上層到下層的遷移過程,通過檢測下層培養(yǎng)液里細(xì)胞量進(jìn)而估算細(xì)胞的侵襲能力。

傳統(tǒng)的 Transwell 實(shí)驗(yàn)使用顯微鏡觀察,通量低,速度慢且無法實(shí)時觀察細(xì)胞的動態(tài)變化。IXM-4 具有出色的激光自動聚焦和圖像自動聚焦能力,可以自動完成 Transwell 的聚焦觀察,速度快精度高,適合高通量批量觀測數(shù)據(jù),若配置環(huán)境控制組件,可長時間動態(tài)觀察細(xì)胞的遷移過程。




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