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杭州譜鐳光電技術(shù)有限公司>>光譜與成像>>角分辨光譜測量系統(tǒng)>>RTM-VA,RTM-VAS全角度光譜測量臺

全角度光譜測量臺

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  • 型號 RTM-VA,RTM-VAS
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更新時間:2021-05-14 13:44:35瀏覽次數(shù):297

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產(chǎn)品簡介

RTM-VA全角度光譜測量臺可以搭配光譜儀、光源及其他測量附件,可以對材料進(jìn)行不同角度入射和接收的光譜測量,適用于各種表面平整的樣品光譜測量。品牌:專譜型號:RTM-VA,RTM-VAS

詳細(xì)介紹

杭州專譜光電技術(shù)有限公司在光譜儀器、激光器系統(tǒng)及配件,生物光學(xué)和量子光學(xué)等領(lǐng)域和應(yīng)用有非常多的經(jīng)驗(yàn)和解決方案,同時也組建了一支專業(yè)的銷售和服務(wù)團(tuán)隊。目前公司在光譜儀器和激光檢測系統(tǒng)方面有自己的研發(fā)能力,開發(fā)出了便攜式土壤重金屬分析儀(LIBS)、便攜式紅寶石標(biāo)壓系統(tǒng)、顯微拉曼測量系統(tǒng)等。同時公司時刻關(guān)注較早 前沿的技術(shù)和產(chǎn)品,目前代理包括微型光纖光譜儀、紅外光譜儀,飛秒激光器,納秒激光器,可調(diào)諧激光器,窄線寬激光器,He-Ne激光器等各種激光器和配件。同時代理各類光電檢測設(shè)備,包括功率計、能量計、光束質(zhì)量分析系統(tǒng)、脈寬測量探測器和自相關(guān)儀、偏振態(tài)測量系統(tǒng)。還有代理各類光學(xué)配件,包括光學(xué)元器件,位移系統(tǒng),濾波片。

 

材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率會發(fā)生變化。通過測量不同角度入射,研究材料的最敏感角度,為進(jìn)一步研究或設(shè)計測量儀器提供依據(jù)。

RTM-VA全角度光譜測量臺可以搭配光譜儀、光源及其他測量附件,可以對材料進(jìn)行不同角度入射和接收的光譜測量,適用于各種表面平整的樣品光譜測量。采用電控獨(dú)立雙軸設(shè)計,高精度步進(jìn)電機(jī)控制發(fā)射端和接收端的角度,角度分辨率0.05°。光譜范圍220-2500nm(可選擇不同配置),電腦軟件選擇發(fā)射端和接收端的角度,實(shí)現(xiàn)快速的光譜測量,能夠滿足透射/反射/散射/熒光/輻射等多種模式的全角度光譜測量應(yīng)用的需求。

入射端帶有一個旋轉(zhuǎn)偏振片架和一個濾波片架,可以放置一個偏振片和濾波片。接收端帶有一個濾波片架,可以放置一個濾波片、偏振片或者波片。各種波長的范圍的偏振片、濾波片和波片可供選擇。

 

img1

 

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 全角度測量:發(fā)射端角度范圍0°至180°,接收端角度范圍0°至360°,可以實(shí)現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量。

  • 精確角度控制:高精度電機(jī),角度精度及重復(fù)性能優(yōu)異。

  • 多光譜測量模式:可以實(shí)現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量。

  • 可編程測量模式:可以通過編程,來實(shí)現(xiàn)自動多角度光譜測量。

  • 自由測量模式:可以任意控制樣品臺的入射角、接收角,實(shí)現(xiàn)光譜測量。

  • 可選配件多樣:根據(jù)客戶的不同測量應(yīng)用,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測量應(yīng)用。

  • 多維調(diào)節(jié)樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實(shí)現(xiàn)樣品的五維正交調(diào)節(jié)。

 

產(chǎn)品應(yīng)用:

  • LED光源等

  • 材料鍍膜

  • 光子晶體器件

  • 液晶顯示

  • 傳感器器件制備

  • 角度材料相關(guān)分析

  • 納米光學(xué)材料

 

技術(shù)參數(shù)

參數(shù)指標(biāo)

參數(shù)/型號

RTM-VA

RTM-VAS

光譜范圍

360-2500nm

360-2500nm

光源

含鎢燈光源

含鎢燈光源和積分球

光斑大小

≥3mm

≥5mm

入射角范圍

0-180°

0-180°

接收角范圍

0-360°

0-180°

角度分辨率

0.05°

測量對象

平面樣品、發(fā)光樣品

鏡面樣品、曲面樣品

應(yīng)用

反射、透射、散射、熒光測量

反射率、透過率測量

 

可選配件

紫外擴(kuò)展模塊

RTM-UV

250-2500NM

光譜儀

USB2000+

350-1000nm

QEPRO

350-1100nm

NIRQUEST

900-2500nm

光源

DH-2000

220-2500nm

偏振片

PLine-UV

 

PLine-VIS-A

400-700nm

PLine-VIS-B

600-1100nm

PLine-NIR-A

1050-1700nm

 

光譜角度測量模式

img2
 

3041510_meitu_1

反射測量(上反射/下反射)模式

透射測量模式

3041511_meitu_1

img5
 

散射/熒光測量械

輻射測量模式

 

 

 

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品

海洋光譜儀

反射標(biāo)準(zhǔn)板

激光器

 

 

 

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