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詳細(xì)介紹
廠家介紹：
美國 DataRay 公司成立于1988年，專業(yè)提供激光光束分析儀器，對激光光束的光斑大小，形狀和能量分布等參數(shù)進(jìn)行全面的測試和分析；可提供2D或3D的顯示，并對分析的結(jié)果進(jìn)行打印輸出。適合各種各樣的激光光束，幫助你對你的激光光束的品質(zhì)提供一個量化的結(jié)果。
應(yīng)用領(lǐng)域：
通信：光纜加工/熔接、研發(fā)
材料加工：焊接、蝕刻、切割
消費(fèi)設(shè)備：光學(xué)鼠標(biāo)
天文
激光制造與品控
光譜學(xué)
3D掃描
粒子檢測
LED：室內(nèi)照明、車頭燈
LIDAR：AR、VR
生物醫(yī)學(xué)：眼科手術(shù)、激光手術(shù)、內(nèi)部跟蹤
掃描狹縫光束輪廓分析儀
掃描狹縫輪廓分析系統(tǒng)提供高分辨率，但是要求光束小于1µm且價格要高于相機(jī)型光束分析儀。盡管不能給出光束圖像，但是在很多情況下XY或XYZθΦ輪廓就可以滿足應(yīng)用要求。
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型號 | BeamScopeTM-P8 | Beam’RTM2 | BeamMapTM2 |
Profiling or Imaging | 精密12bit profiling | ||
主要特點(diǎn) | 多功能XY探頭 2D+M2選項(xiàng) | 精密XY | XYZθΦ Focusing, Pointing, Divergence, Collimation, M2 |
連續(xù)波或脈沖 | CW. Pulsed >5 kHz, high duty cycle | CW, Pulsed MinPRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)] kHz | |
波長范圍 | Si: 190-1150nm Ge: 800-1800nm InAs: 1.5-3.9μm | Si: 190-1150nm InGaAs: 650-1800nm Si+ InGaAs: 800-1800nm Si+ InGaAs, ext: 190-2500nm | |
Profiles: Line、X、XY | Yes | ||
XYZ profiles + θΦ | NA | Yes | |
超高分辨率 | 2.0μm | 0.1μm | |
超小光束 | 100μm | 2μm | |
M2測量 | Yes-with M2DU-BSB | Yes-with M2DU-BR | Yes-real-time |
Locate Focus | Yes-with M2DU-BSB | Yes-with M2DU-BR | Yes |
Pointing/Divergence | Yes-with M2DU-BSB | Yes-with M2DU-BR | Yes |
準(zhǔn)直 | Yes-with M2DU-BSB | Yes-with M2DU-BR | ColliMateTM head |
開關(guān)增益 | 42.5dB | 32dB | |
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