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高級朗繆爾探針

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更新時間:2021-07-09 15:13:15瀏覽次數(shù):529

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產(chǎn)品簡介

A system for the analysis of secondary positive and negative ions from solid samples.

詳細介紹

ESPion高級朗繆爾探針(Advanced Langmuir Probes for Electrical Plasma Characterisation)可快速、可靠、精確地進行等離子體診斷,是可靠的Langmuir探針。
 

·Hiden在被動射頻補償方面處于地位,在所有的商業(yè)化探針中 ESPion具有的屏蔽阻抗(4.25Mohm at 13.56 MHz cf. 100kohm) 
· 參考探針補償用于抵制較低頻率影響,例如等離子體電位漂移(如,反應室內(nèi)腔陽極氧化所致) 或噪音(如,供電源引起)
· 高溫等離子體操作時的氣體制冷多感應器鏈,使用者可調(diào)諧至其他頻率 

 

 

·獲得數(shù)據(jù)速度:     15scans/s,

·通過D-O-E-界面可以自動/半自動/手動分析
·300、600915mm 自動線性驅(qū)動器可選,互鎖隔離閥,

·90°探針,組合式線性-旋轉(zhuǎn)驅(qū)動器可選
·ESPion 是所有商業(yè)化探針中速的脈沖等離子體探針,

·ESPsoft 包括所有必需的標準脈沖選通電路

·自清洗循環(huán),防止探針污染
· 經(jīng)由RS232、RS485、Ethernet LAN ESPsoft軟件控制


ESPION Series - Advanced Langmuir Probes for Plasma Diagnostics (311 KB)

Mass Spectrometers for Thin Films, Plasma and Surface Engineering (1.1 MB)

AP0067 - O- Density Measurements in the Pulsed-DC Reactive Magnetron Sputtering of Titanium (215 KB)

AP0121 - Hiden ESPion Plasma Probe Measurements on a Hollow-Cathode Based Large-Volume Plasma Source (277 KB)

AP0142 - Ion Density Increase in High Power Twin-cathode Magnetron System (247 KB)

Energy/Mass Spectrometer Analyser and Langmuir Probe Diagnostics for HIPIMS (1.88 MB)

Mass Spectrometry in HiPIMS Plasmas - COST Workshop 2012 (3.2 MB)

Plasma Diagnostics in High Power Impulse Magnetron Sputtering Discharges - TIRI JSFS 2012 Tokyo YAG (3.52 MB)

 

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