Thermo ARL QUANTX EDXRF 光譜儀

Thermo ARL QUANTX EDXRF 光譜儀

詳細(xì)介紹
Thermo Scientific™ ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測(cè)限瓶頸。

專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。

描述

能量彌散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡(jiǎn)易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。

*的技術(shù)

*的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測(cè)器 數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù) 高性能、多元素分析

主要功能

出色的痕量分析靈敏度 高分析量的進(jìn)程控制 適用于異常材料的高級(jí)分析算法 出色的樣品處理靈活性 機(jī)械簡(jiǎn)化和靈活性 占地面積小、易于運(yùn)輸以進(jìn)行野外測(cè)量 快速、簡(jiǎn)易的安裝以及可*現(xiàn)場(chǎng)定制

隨附完整的實(shí)驗(yàn)室啟用套件 經(jīng)驗(yàn)證的硬件和全套軟件 現(xiàn)場(chǎng)、協(xié)同方法開發(fā) 完整的技術(shù)應(yīng)用支持 匯集了數(shù)百種應(yīng)用的專業(yè)知識(shí)

功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace™ 軟件

無標(biāo)和半無標(biāo)分析 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法 多層厚度及成分 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣 利用自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件

懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫(yī)及痕量分析 營(yíng)養(yǎng)補(bǔ)充劑 磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體 土壤污染 過濾器上的薄膜 塑料中的有毒元素