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μMLA桌面無(wú)掩模光刻機(jī)

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更新時(shí)間:2021-07-22 20:38:31瀏覽次數(shù):222

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MLA桌面無(wú)掩模光刻機(jī)

詳細(xì)介紹

μMLA桌面無(wú)掩模光刻機(jī)

桌面型光刻機(jī)μMLA 技術(shù)參數(shù)

直寫(xiě)模式 I*直寫(xiě)模式 II*
寫(xiě)入性能(光柵掃描和矢量曝光模式)
最小結(jié)構(gòu)尺寸 [μm]0.61
最小線寬/線隙 [半寬, μm]0.81.5

第二層對(duì)準(zhǔn)

大于 5 x 5 mm2 [3σ, nm]

500500

第二層對(duì)準(zhǔn)

大于 50 x 50 mm2 [3σ, nm]

10001000
直寫(xiě)性能 光柵掃描曝光模
線寬變代 [3σ, nm]200300
直寫(xiě)速率 [mm2/min]1030

可選“可變分辨率光柵掃描曝光模塊”的寫(xiě)入速度(UMVAR),

適用于不同最小結(jié)構(gòu)尺寸。

10 mm²/min

at 0.6 µm

30 mm²/min

at 1 µm

20 mm²/min

at 1 µm

60 mm²/min

at 2 µm

25 mm²/min

at 2 µm

100 mm²/min

at 4 µm

矢量曝光模式直寫(xiě)寫(xiě)性能
矢量模式下的地址網(wǎng)格 [nm]2020
邊緣粗糙度 [3σ, nm]3050
線寬變化 [3σ, nm]7080
線性直寫(xiě)速率200 mm/s200 mm/s
系統(tǒng)參數(shù)
襯底尺寸5″ x 5″5″ x 5″
最小襯底尺寸

5 mm x 5 mm

5 mm x 5 mm

基板厚度0.1 to 12 mm0.1 to 12 mm
光柵掃描模塊矢量曝光模塊
光源LED; 390 nm or 365 nmLaser; 405 nm and/or 375 nm

系統(tǒng)尺寸(光刻單元)

µMLAWidthDepthHeightWeight
主機(jī)630 mm (25″)800 mm (31.5″)530mm (21″)100 kg (220 lbs)
可選配防振表1400mm (55″)700 mm (28″)750 mm (30″)350 kg (770 lbs)

無(wú)掩模光刻機(jī)于2015年推出。從那時(shí)起,的無(wú)掩膜技術(shù)已經(jīng)確立。μMLA提供了新一代的桌面激光光刻工具: 配置設(shè)置精確到您的需要與光柵掃描和矢量掃描模式(或兩者)和可變分辨率的記錄磁頭。

在許多應(yīng)用中,傳統(tǒng)的光掩膜已經(jīng)成為過(guò)去,因?yàn)槟愕脑O(shè)計(jì)文件是通過(guò)二維空間光直接暴露在電阻涂層晶圓上的調(diào)制器(SLM)。µMLA是MLA100的直接繼承者,是“小”MLA150,是我們*的無(wú)掩模對(duì)準(zhǔn)器的兄弟,它是許多多用戶設(shè)備、納米制造實(shí)驗(yàn)室和國(guó)家研究所中值得信賴、*的主力。

在我們?nèi)碌娜腴T級(jí)系統(tǒng)µMLA的開(kāi)發(fā)過(guò)程中,我們引入了諸如可變解決方案等新特性,并創(chuàng)建了一個(gè)靈活且高度可定制的桌面系統(tǒng)。當(dāng)然,小樣本處理很簡(jiǎn)單。µMLA功能所有在我們以前的桌面系統(tǒng),同時(shí)提供更多的選擇和更高的性能比以往任何時(shí)候。

應(yīng)用包括研究和發(fā)展的領(lǐng)域,如MEMS,微流體,微光學(xué)和所有其他領(lǐng)域,負(fù)擔(dān)得起,緊湊,和強(qiáng)大的模式基因rator微結(jié)構(gòu)是必需的。

APPLICATIONS 應(yīng)用程序

微光學(xué):二元衍射光學(xué)元件。設(shè)計(jì)由1個(gè)µm²正方形組成。

μMLA提供了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的灰度模式,這可以制造低創(chuàng)造的微鏡頭。防蝕膠:15 μm厚AZ4562。節(jié)距30 μm,曲率半徑16 μm。

CUSTOMIZE YOUR μMLA 定制您的μMLA

兩種曝光模式

μMLA可以讓你選擇光柵掃描曝光模式和矢量模式,或者甚至在同一個(gè)系統(tǒng)上運(yùn)行曝光模式! 光柵掃描曝光模式快速,并提供優(yōu)秀的圖像質(zhì)量和保真度,而寫(xiě)入時(shí)間獨(dú)立于結(jié)構(gòu)尺寸或圖案密度。矢量掃描模式可以幫助暴露由曲線組成的設(shè)計(jì),當(dāng)需要平滑的輪廓。雖然矢量模式產(chǎn)生的圖像質(zhì)量與光柵掃描曝光模式相似,但它不能達(dá)到同樣的寫(xiě)入速度,特別是對(duì)于高填充系數(shù)的模式。

A Choice of Wavelengths 波長(zhǎng)的選擇

因此,你可以在一個(gè)系統(tǒng)上使用多達(dá)三個(gè)不同波長(zhǎng)(LED和/或激光二極管)。

Variable Resolution 可變分辨率

我們新開(kāi)發(fā)的可變分辨率函數(shù)允許您為一個(gè)部分的編寫(xiě)模式選擇三種不同的分辨率。只需在軟件菜單中選擇解決方案,并為您的應(yīng)用程序優(yōu)化參數(shù)。

The Surface at One Glance

可選的概述相機(jī)提供了一種簡(jiǎn)單的方法來(lái)定位對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記或其他特征感興趣的基板上。

Small Sample Handling 小樣本處理

小樣品處理是直接與μMLA: 光學(xué)自動(dòng)對(duì)焦選項(xiàng)允許準(zhǔn)確曝光,直到樣品的邊緣。

5 mm x 5 mm

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