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上海大普儀器有限公司>>分光光度計(jì)>>756、754型 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

756、754型 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

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  • 756、754型 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

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更新時(shí)間:2021-07-14 20:16:43瀏覽次數(shù):362

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756、754型 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

詳細(xì)介紹

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756、754型 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

應(yīng)用

本系列分光光度計(jì),在紫外可見(jiàn)光譜區(qū)域內(nèi)對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定性、定量分析,是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室的多用途分析儀器。

品質(zhì)

波長(zhǎng)允許誤差、透射比(光度)允許誤差:

756: 波長(zhǎng)允許誤差±0.5nm,透射比(光度)允許誤差±0.5%

754: 波長(zhǎng)允許誤差±0.8nm,透射比(光度)允許誤差±0.5%;

智能化、自動(dòng)化。

功能、特點(diǎn)

1200線(xiàn)/mm全息光柵單色器,精度高、單色性好、雜散光低;

*的微電子中心處理器,保障測(cè)量值精密、精確,性能穩(wěn)定;

自動(dòng)校正T0、T100,A-T轉(zhuǎn)換誤差為零;

濃度測(cè)試:標(biāo)準(zhǔn)濃液法、斜率(濃度因子)設(shè)置法。濃度直讀;

自動(dòng)能量掃描、光譜掃描、時(shí)間掃描;

光譜曲線(xiàn)峰谷檢測(cè);

掃描曲線(xiàn)圖可臨時(shí)存儲(chǔ),由SD卡輸出轉(zhuǎn)移。庫(kù)存掃描曲線(xiàn)圖采集、保存、轉(zhuǎn)移符合GLP規(guī)范。

測(cè)量值數(shù)據(jù)庫(kù):數(shù)據(jù)采集、存儲(chǔ)符合GLP規(guī)范。庫(kù)存數(shù)據(jù)可查詢(xún)、轉(zhuǎn)移、刪除(單組)、清零(全部),數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限保存采集數(shù)據(jù)(SD卡轉(zhuǎn)移輸出)。

技術(shù)參數(shù)

參數(shù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)

756

754

波長(zhǎng)(nm)

范圍

190.0~1100.0

分辨率

0.1

允許誤差

±0.5

±0.8

重復(fù)性

≤0.2

透射比(T)

范圍

(0.00~999.99)%

分辨率

0.01%

允許誤差

±0.5%

重復(fù)性

≤0.2%

光度范圍

(-1.0000~4.0000)Abs

濃度范圍

(0.000~999.9)pg(ng、μg、mg、g)/L

光譜帶寬

2nm

雜散光

≤0.05%(T)

≤0.1%(T)

噪聲

≤0.2%(T)

0%

≤0.05%(T)

漂移[%(T)/30min]

≤0.5(0.005A)

基線(xiàn)平直度

±0.005A

掃描速度

快、中、慢

PC接口

USB2.0

電源

AC:220V,50/60Hz

尺寸;重量

400×376×145(mm);6.8(kg)

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