智能抗干擾戒指損耗測(cè)試儀概述
智能抗干擾戒指損耗測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于工頻高壓下測(cè)量各種絕緣材料、套管、電力電纜電容量,互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量(CX)。它淘汰了Qsi高壓電橋,具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗*力強(qiáng),測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)是我公司的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
智能抗干擾戒指損耗測(cè)試儀特點(diǎn)
■ 測(cè)試方式:正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法
■ 測(cè)量范圍:內(nèi)接試驗(yàn)電壓:≤60000PF(10kV電壓大于30000PF)
■ 基本測(cè)量誤差:介質(zhì)損耗(tgδ):1%±0.04%
電容容量(Cx):1%±1PF
■ 智能抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀輸出功率:1.5kW
■ 智能抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作電源:AC220V±10% 50Hz
■ 使用環(huán)境:溫度-20℃~45℃ 濕度<75%
■ 外型尺寸:440×295×360(mm)
■ 重 量:18kg