德惠LED防爆視孔燈,LED大功率防爆泛光燈

公司：樂(lè)清市嘉然防爆照明科技有限公司
：朱軍

坐機(jī)：

:9732764
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地址：樂(lè)清市樂(lè)成街道新河路

產(chǎn)品：德惠LED防爆視孔燈,LED大功率防爆泛光燈
品牌：嘉然防爆
光源：進(jìn)口普瑞LED燈珠、大功率多顆燈珠、普瑞集成燈珠
光通量：100LM/W
防爆標(biāo)志：Exdemb IICT4 Gb/DIP A20 TA,T4
防護(hù)等級(jí)：IP65
防腐等級(jí)：WF2
安裝方式：壁掛式、吸頂式、路燈式
適合安裝高度：3-6m
燈殼材質(zhì)：壓鑄鋁殼
燈罩材質(zhì)：鋼化玻璃
燈殼顏色：灰色
可做應(yīng)急照明：45min、60min、90min
適用壽命：5至6年
質(zhì)保：3年
適用場(chǎng)所：加氣站罩棚、泵房、井口房、糧食倉(cāng)庫(kù)等。
 

                       LED隧道燈的紅外熱圖像故障診斷法            

   中國(guó)已經(jīng)成為了世界上公路隧道zui多的國(guó)家，截止2015年底，全國(guó)公路隧道總長(zhǎng)超過(guò)255.55萬(wàn)干米，并保持較高的增長(zhǎng)速度口〕，隧道照明節(jié)能得到社會(huì)各界的重視。D}乍為高效、節(jié)能和環(huán)保的新一代光源了隧道照明的發(fā)展方向，已經(jīng)開(kāi)始慢慢取代傳統(tǒng)的高壓鈉燈。    在傳統(tǒng)的檢測(cè)流程中，口隧道燈在投入使用之前需要抽樣進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)、電學(xué)檢測(cè)、機(jī)械檢測(cè)和環(huán)境檢測(cè)〔2〕。這些方法難以發(fā)現(xiàn)燈具潛在的故障，比如焊點(diǎn)、導(dǎo)熱層的失效，無(wú)法對(duì)口燈具的可靠性進(jìn)行評(píng)價(jià)?？谑且环N對(duì)溫度十分敏感的半導(dǎo)體器件，隨著溫度升高，器件的發(fā)光效率降低、顏色發(fā)生偏移、壽命也會(huì)縮減。根據(jù)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，45%的電子產(chǎn)品都是因?yàn)闇囟冗^(guò)高造成損壞，所以散熱性能衡量口隧道燈產(chǎn)品是否合格的重要指標(biāo)，需要重點(diǎn)測(cè)量。同時(shí)口發(fā)熱量大，導(dǎo)熱通道中存在的異常一般能夠在燈具表面觀察到對(duì)應(yīng)的變化，所以對(duì)散熱特性進(jìn)行檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部故障，從而預(yù)測(cè)燈具可靠性。    常見(jiàn)的熱學(xué)測(cè)試方法有熱電偶測(cè)試法和紅外熱像測(cè)試法。熱電偶測(cè)試法操作復(fù)雜，采樣點(diǎn)數(shù)目有限，不適合做隧道燈散熱監(jiān)測(cè)。紅外熱像法，操作簡(jiǎn)單，能夠?qū)崿F(xiàn)空間平面多點(diǎn)(約76800個(gè))同步采集，方便數(shù)據(jù)處理。紅外熱像無(wú)損檢測(cè)技術(shù)具有無(wú)需藕合、快速實(shí)時(shí)、檢測(cè)面積大和檢測(cè)距離遠(yuǎn)等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用到電力設(shè)備實(shí)時(shí)在線狀態(tài)檢測(cè)和熱故障診斷?？谒淼罒舭l(fā)熱量大，利用紅外熱像技術(shù)能較好捕捉散熱信息，從而進(jìn)行散熱性能評(píng)價(jià)。    

             利用紅外熱成像技術(shù) LED隧道燈的紅外熱圖像故障診斷法   

利用紅外熱成像技術(shù)，在可控的實(shí)驗(yàn)條件下對(duì)四盞口隧道燈進(jìn)行測(cè)試，分別從溫升和溫度場(chǎng)分布進(jìn)行分析，發(fā)現(xiàn)了問(wèn)題燈具，通過(guò)圖像初步判斷可能的故障原因并用有限元分析進(jìn)行確認(rèn)，zui后用拆燈的方式驗(yàn)證了故障原因。通過(guò)以上實(shí)驗(yàn)及分析，證明了紅外熱像無(wú)損檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用于口隧道燈故障診斷的可行性。一、原理方法    由于LED的電光轉(zhuǎn)化效率僅在20%左右，大量的熱會(huì)聚集在芯片處，并通過(guò)芯片襯底、內(nèi)部熱沉、MCPCB,焊接層、導(dǎo)熱膠層和外部熱沉這一通道進(jìn)行傳導(dǎo)。熱沉表面的溫度變化情況由燈具光源工作狀態(tài)和傳熱通道共同決定，所以在傳熱通道一定的情況下，燈具表面的溫度分布反映了燈具光源的工作狀態(tài)，而在燈具光源工作狀態(tài)*時(shí)，燈具表面溫度則描述了傳熱通道的暢通程度?；谝陨显恚瑢?duì)于同型號(hào)的LED隧道燈，可以假定光源工作狀態(tài)*，通過(guò)檢測(cè)LED隧道燈表面溫度分布來(lái)判斷LED散熱及封裝是否存在異常。    紅外熱像儀主要由紅外探測(cè)器和光學(xué)成像系統(tǒng)組成，接收被檢測(cè)目標(biāo)表面的紅外輻射，經(jīng)光譜濾波、空間濾波，將紅外輻射能量分布聚焦到探測(cè)器的光敏元件上，從而獲取紅外熱圖像。紅外輻射功率與物體表面溫度的對(duì)應(yīng)關(guān)系可以用斯蒂芬一波爾茲曼定律來(lái)描述 目前紅外檢測(cè)的一種主要方法是比較差動(dòng)紅外熱敏成像法，該方法通過(guò)將被測(cè)對(duì)象的溫度記錄圖與標(biāo)準(zhǔn)熱分布圖作比較來(lái)判斷故障的發(fā)生位置川。如果被測(cè)對(duì)象發(fā)熱量大，發(fā)生故障時(shí)其表面溫度會(huì)發(fā)生明顯的變化，所以可以采用這種差分方法進(jìn)行故障檢測(cè)。此外，一般電子設(shè)備在工作一段時(shí)間后會(huì)達(dá)到或接近熱平衡，從開(kāi)始工作到接近穩(wěn)定熱平衡這段時(shí)間燈具表面溫度的變化會(huì)遵循一定的規(guī)律，據(jù)此可以繪制溫度變化的曲線，作為故障診斷的依據(jù)。當(dāng)電子設(shè)備的熱源或者散熱通道發(fā)生故障時(shí)，設(shè)備表面溫度變化曲線通常會(huì)有異常表現(xiàn)。    比較差動(dòng)紅外熱敏成像法的前提是獲得標(biāo)準(zhǔn)燈具正常工作時(shí)的圖像，如果獲取的標(biāo)準(zhǔn)圖像模糊或者并非標(biāo)準(zhǔn)圖像，將會(huì)影響對(duì)故障判斷的準(zhǔn)確性。針對(duì)這種情況，由于不同的檢測(cè)距離、方向、環(huán)境溫度和環(huán)境濕度對(duì)紅外熱圖像的影響很大，所以實(shí)驗(yàn)選在環(huán)境條件可控的暗室內(nèi)進(jìn)行，保持固定的距離和方向，盡可能減小環(huán)境和測(cè)試條件差異造成的測(cè)量誤差。    實(shí)驗(yàn)中首先固定好待測(cè)燈具，讓燈具熱沉正對(duì)紅外儀鏡頭，調(diào)節(jié)紅外儀的位置使整個(gè)燈具的熱圖像在鏡頭中心區(qū)域，在環(huán)境條件穩(wěn)定之后較高的表面溫度表明燈具產(chǎn)生的熱量較多，}K熱器與光源模組的匹配度較低。那么可以初步判斷C燈和口燈的散熱設(shè)計(jì)不合理，燈具表面溫升過(guò)大。  

LED隧道燈的紅外熱圖像故障診斷法溫度場(chǎng)分析

利用紅外圖像進(jìn)行隧道燈故障診斷的前提是標(biāo)準(zhǔn)熱圖像，在無(wú)法獲得正常燈具的情況下，可以利用有限元分析的方法對(duì)這個(gè)分布進(jìn)行仿真。在獲得四盞燈具的幾何參數(shù)和材料參數(shù)之后，能夠?qū)λ谋K匕巨口隧道燈的穩(wěn)態(tài)溫度場(chǎng)進(jìn)行模擬。實(shí)際結(jié)果如圖3所示，兩者進(jìn)行比較之后可以冷王A燈禾日口燈存存異常_    從紅外診斷技術(shù)的角度來(lái)講，故障可以分為外部故障和內(nèi)部故障兩類間。外部故障一般是由裸露在大氣中的電氣接頭接觸不良或絕緣性能降低造成，內(nèi)部故障一般指密封在固體絕緣、油絕緣及設(shè)備殼體內(nèi)的電氣回路故障和介質(zhì)劣化造成?？谒淼罒敉獠恐饕赏庹帧⑸崞骱碗娫唇M成，外部設(shè)備發(fā)生故障的概率極低?？谒淼罒舻膬?nèi)部組件主要包含燈珠、焊接層、導(dǎo)熱膠和散熱器等，結(jié)構(gòu)較復(fù)雜，這些部件相互協(xié)調(diào)較難，發(fā)生故障的概率較高。實(shí)驗(yàn)中實(shí)測(cè)口隧道燈溫度場(chǎng)與標(biāo)準(zhǔn)溫度場(chǎng)存在明顯差異，可能由口芯片功率差異大、焊點(diǎn)不均、導(dǎo)熱膠厚薄不均等因素造成。    為了進(jìn)一步判斷導(dǎo)致A燈溫度場(chǎng)異常的原因，在標(biāo)準(zhǔn)模型的基礎(chǔ)上，改變口光源功率分布、焊接層分布和導(dǎo)熱膠分布，通過(guò)有限元方法進(jìn)行了模擬。    口光源雖然功率規(guī)格是一樣的，但是不同燈珠之間可能會(huì)存在功率上的細(xì)微差異。A燈所用的燈珠的標(biāo)稱的功率誤差為5%，由于焊接和其他不確定因素的影響，假設(shè)該誤差為10%0該隧道燈的燈珠排布方式為6}6，按照熱圖像的分布，燈珠的百分比功率分布如矩陣A所示(矩陣中數(shù)值100表示實(shí)際功率與標(biāo)稱功率*)。根據(jù)該分布利用有限元方法得到的模擬溫度場(chǎng)分布如圖5所示，可見(jiàn)燈珠功率的不均勻性對(duì)燈旦弄而熱分布的影日官旱+分有口目的_    芯片的焊接大多米用回流焊萬(wàn)式，但是任焊接乏前A燈生產(chǎn)廠家的焊錫膏是由人工涂抹上去的，這樣難免使得焊接層的厚薄不均。為了簡(jiǎn)化仿真過(guò)程，壓導(dǎo)熱系數(shù)的變化來(lái)等效代替焊接點(diǎn)厚薄變化。    假定焊接層相對(duì)平均厚度的變化率為士20% ,根據(jù)傳熱的熱阻公式:                口光源與鋁基板之間通過(guò)焊接連接，鋁基板與外部散熱器之間通過(guò)導(dǎo)熱硅脂來(lái)增強(qiáng)結(jié)合度，消除空氣間h，使導(dǎo)熱通道更加順暢。A燈的導(dǎo)熱硅脂采用人工涂抹方式，由于涂抹面大，該導(dǎo)熱層的均勻性很難保證。從理論上講導(dǎo)熱層的厚度越薄越好，可是即使熟練工人也難以把握這個(gè)尺度，為了避免產(chǎn)生空氣I,，涂抹層的厚度較大。由于導(dǎo)熱硅脂層涂抹不均勻大，假定相對(duì)平均厚度的變化率為50%，百分比厚度分布用矩陣C表示，仿真結(jié)果如圖了所示，可以發(fā)現(xiàn)導(dǎo)熱硅脂分布的不均勻性對(duì)熱沉溫度分布影響很小。    為了驗(yàn)證仿真結(jié)果所得出的判斷是否正確，將該口隧道燈A的外殼打開(kāi)，并查看內(nèi)部結(jié)構(gòu)，發(fā)現(xiàn)該燈的芯片外觀、焊點(diǎn)尺寸、導(dǎo)熱硅脂層厚度都趨于*?？紤]到焊接層、導(dǎo)熱硅脂層的不均勻性對(duì)外部熱沉溫度分布影響比較小，所以推測(cè)實(shí)驗(yàn)中觀察到的溫度場(chǎng)異常現(xiàn)象應(yīng)該是由燈珠功率不均勻?qū)е隆?nbsp;   口燈的光源由兩塊多晶COB封裝的面光源口組成，每塊的功率高達(dá)60V}/，芯片與熱沉之間用導(dǎo)熱硅脂直接相連。這樣的散熱結(jié)構(gòu)會(huì)導(dǎo)致熱量堆積在熱沉上緊鄰的區(qū)域，需較長(zhǎng)時(shí)間才能擴(kuò)散，導(dǎo)致局部過(guò)熱。從仿真結(jié)果來(lái)看，熱沉上溫度zui高點(diǎn)應(yīng)該在兩芯片的正后方，呈現(xiàn)雙峰分布。但實(shí)測(cè)結(jié)果表明溫度zui高點(diǎn)集中在其中一塊芯片，呈現(xiàn)單峰分布，而且兩芯片正后方熱沉的溫差很明顯。據(jù)此判定溫度場(chǎng)不均的原因是兩塊芯片的功率相差較大，由于芯片的型號(hào)*，功率的差異很可能是由電源引起?？跓魞蓧K芯片的電源模塊是相互獨(dú)立的，所以可以通過(guò)交換電源模塊進(jìn)行驗(yàn)證，實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)交換電源模塊后溫度單峰的位置轉(zhuǎn)移到另一塊芯片，所以導(dǎo)致口燈溫度場(chǎng)異常的主要原因是其中一個(gè)電源模塊存在質(zhì)量問(wèn)題。