適用范圍：
ETS-406D靜電衰減測(cè)試儀可用于實(shí)驗(yàn)室以分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。同時(shí)該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來(lái)進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國(guó)GB 19082，中國(guó)軍標(biāo)GJB2625
產(chǎn)品詳細(xì)：
ETS-406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法，是符合美國(guó)軍標(biāo)方法4046的一套完整的材料靜電特性測(cè)試系統(tǒng)。該設(shè)備是符合美軍標(biāo)MIL-PRF- 81705D規(guī)范用于檢測(cè)材料是否合格的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。406D符合美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)、美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)、美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C、中國(guó)GB 19082，中國(guó)軍標(biāo)GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管;選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間。
配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開(kāi)法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷。
STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過(guò)測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常。
位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無(wú)損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣。
產(chǎn)品特性：
充電電壓：0～5.5kV;
誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0);
電壓表量程：0-5kV;
計(jì)時(shí)器量程：1-99.99s;
計(jì)時(shí)分辨率：0.01s;
顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程;
測(cè)試模式：手動(dòng)、自動(dòng)(只能測(cè)試從5kV開(kāi)始的衰減);
自動(dòng)測(cè)試次數(shù)：1-9次;
測(cè)試時(shí)間間隔：1-25秒;
輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。
訂購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)配置：
406D測(cè)試主機(jī);
法拉第測(cè)試籠;
磁性固定電極;
條形夾具;
STM-2驗(yàn)證模塊。
選配：806B無(wú)損測(cè)試電極。
如何測(cè)試靜電呢
靜電測(cè)試儀為例，它為手持式儀器，本儀表傳感器采用電容感應(yīng)探頭（本儀表的探頭位于儀表的前端，與儀表成一體），利用電容分壓原 理，經(jīng)過(guò)高輸入阻抗放大器和A/D轉(zhuǎn)換器等，由液晶顯示出被測(cè)物體的靜電電壓。為保證讀數(shù)的準(zhǔn)確，本儀表設(shè)有電池欠壓顯示電路以及讀書(shū)保持等電路。
采購(gòu)中心
