X-4A 顯微熔點儀
X-4A 顯微熔點儀產(chǎn)品簡介
測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
X-4A 技術(shù)參數(shù)
熔點測量范圍:室溫至320℃
測量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)
溫度顯示zui小值:0.1℃
熔點觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
我公司鄭重承諾:
1.凡我公司出售的所有產(chǎn)品保修期為一年,在保修期內(nèi)產(chǎn)品市區(qū)免費上門維修(人為因素或不可抗拒的自然現(xiàn)象所引起的故障或破壞除外),省外用戶視情況,協(xié)商解決。
2. 在接到報修通知后,一個小時內(nèi)作出回應(yīng),二十四小時內(nèi)定出維修解決方案,七個工作日解決問題。
3. 用戶可以通過售后咨詢有關(guān)技術(shù)問題,并得到明確的解決方案。
4. 用戶在正常使用中出現(xiàn)性能故障時,本公司承諾以上保修服務(wù)。除此以外,國家適用法律法規(guī)另有明確規(guī)定的,本公司將遵照相關(guān)法律法規(guī)執(zhí)行。
5. 在保修期內(nèi),以下情況將實行有償維修服務(wù):
(1)由于人為或不可抗拒的自然現(xiàn)象而發(fā)生的損壞;
(2)由于操作不當(dāng)而造成的故障或損壞;
(3)由于對產(chǎn)品的改造、分解、組裝而發(fā)生的故障或損壞。
禾普(HEB)愿與你攜手打造精細(xì)的實驗儀器產(chǎn)品。