FERA聚焦離子束（Xe）掃描電鏡

FERA聚焦離子束（Xe）掃描電鏡

新一代的聚焦離子束掃描電子顯微鏡為用戶提供了新的技術(shù)優(yōu)勢，例如：改進的高性能電子設(shè)備使圖像采集得速度更快，帶有靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術(shù)的超高速掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等。

FERA3的設(shè)計適應(yīng)各種各樣的SEM應(yīng)用與當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求，其高分辨率、高電流和強大的軟件使TESCAN FIB-SEM成為優(yōu)秀的分析工具。

現(xiàn)代電子光路

*的三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics™)設(shè)計提供了許多工作與顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計

結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)，可模擬和優(yōu)化電子束

全自動的電子光路設(shè)置與合軸

成像速度快

使用3維電子束技術(shù)可獲取實時立體圖像

三維導(dǎo)航

高性能離子光路

高性能的等離子i-FIB設(shè)備使切片和材料的刻蝕既快又精確

維修簡單

現(xiàn)在保持電鏡處在優(yōu)秀的狀態(tài)很簡單，只需要很短的停機時間。每個細節(jié)設(shè)計得很仔細，使得儀器的效率大化，操作簡化。

FERA聚焦離子束（Xe）掃描電鏡自動操作

電鏡除了可以自動化設(shè)置外，還可進行聚焦、調(diào)節(jié)對比度/亮度等自動操作。除此之外，電鏡還有樣品臺自動導(dǎo)航與自動分析 程序，能明顯減少操作員的操作時間。通過內(nèi)置腳本語言(Python)可進入軟件的大多數(shù)功能，包括顯微鏡控制、樣品臺控制、圖像采集、處理與分析等。通過腳本語言用戶還可以自定義自動操作程序。

用戶界面友好的軟件與軟件工具

用戶界面友好的操作系統(tǒng)基于Windows™平臺，多用戶和多語言操作界面

同時的FIB/SEM成像，易于操作

實時圖像支持多窗口模式，可自定義實時圖像參數(shù)

圖像處理，報告生成，在線與離線圖像處理

項目管理軟件

內(nèi)置的自動診斷(自檢)

TCP/IP遠程控制，網(wǎng)絡(luò)操作與遠程進入/診斷

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