X-Strata 系列微焦斑 XRF 光譜儀
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
技術(shù)參數(shù)
憑借的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達(dá)6個(gè)主濾波器和8個(gè)準(zhǔn)直器，能夠處理挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。巨大的開槽室設(shè)計(jì)是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應(yīng)用中的%P。
X-Strata920 可被配置為三個(gè)不同的樣品臺配置，以應(yīng)對各種不同的樣本形狀和尺寸。標(biāo)準(zhǔn)臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個(gè)可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（大6英寸）。電動X-Y臺可自動分析多個(gè)樣品或一個(gè)樣品的多個(gè)位置。
| X-Strata 920 | MAXXI 6 |
| 正比計(jì)數(shù)器系統(tǒng) | 高分辨率 SDD |
| 元素范圍：鈦 - 鈾 | 元素范圍： 鋁 - 鈾 |
| 樣品艙設(shè)計(jì)：開槽 | 樣品艙設(shè)計(jì)：開槽 |
| XY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺 | XY 軸樣品臺選擇：固定臺、自動臺 |
| 大樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米 | 大樣品尺寸：500 x 450 x 170毫米 |
| 大數(shù)量準(zhǔn)直器：6 | 大數(shù)量的準(zhǔn)直器：8 |
| 濾波器：3 | 濾波器：5 |
| 小的準(zhǔn)直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil) | 小的準(zhǔn)直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil) |
| SmartLink 軟件 | SmartLink 軟件 |
X-Strata 系列微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域
微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于 PCB、半導(dǎo)體和電子行業(yè)
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性,根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運(yùn)營，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
電力和電子組件的電鍍
零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍，以達(dá)到預(yù)期的電力、機(jī)械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達(dá)到 引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。
IC 載板
半導(dǎo)體器件越來越小巧而復(fù)雜，需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計(jì)為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析，及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。
服務(wù)電子制造過程 （EMS、ECS）
結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測試點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)從進(jìn)廠檢查到生產(chǎn)線流程控制，再到終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和終產(chǎn)品，確保每個(gè)階段的質(zhì)量。
光伏產(chǎn)品
對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準(zhǔn)確度和連貫性，從而確保高效率。
受限材料和高可靠性篩查
與復(fù)雜的供應(yīng)鏈合作，驗(yàn)證和檢驗(yàn)從供應(yīng)商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù)，根據(jù)IEC 62321方法檢驗(yàn)進(jìn)貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求，確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。
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