M1 MISTRAL鍍層測厚儀

M1 MISTRAL鍍層測厚儀

用于大件樣品和多層膜樣品的非破壞分析

       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的所有元素。分析的樣品類型：各種不同材料，如金屬、合金、塊體、溶液等。

       480×490×200mm³的大腔體支持更大樣品的測量。自動X-Y-Z軸程控樣品臺，zui大移動范圍200×175×80mm，支持自動多點測量。

       M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益， 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

珠寶及合金分析：
       M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K（開）表示
       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各類不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
       樣品尺寸zui大可達(dá)100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方，測量過程中部接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶和不容厚度的樣品。

M1 MISTRAL鍍層測厚儀各種應(yīng)用介紹：

·  通用金屬分析

M1 MISTRAL是通用金屬鍍層分析的理想工具，對緊固件、五金材料、汽車零部件鍍層、高精度的機械部件都能進行準(zhǔn)確、便捷的分析。
·  電子/PCB
采用X-Ray熒光技術(shù)的M1 MISTRAL也可分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、引線框架、圓晶、連接器等，M2 BLIZZARD采用開放腔體，可對大型電路板進行測量。

·  珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶。硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金，30S就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K（開）表示。