ARM 角分辨光譜儀

ARM 角分辨光譜儀 在以上領(lǐng)域的應(yīng)用得益于如下幾個(gè)特點(diǎn)： 1  超過 60° 的角度  ARM 優(yōu)選 Olympus 大 N.A. 平場復(fù)消色差物鏡，收集超過 60° 的角向輻射光譜；匹配智能算法，快速實(shí)現(xiàn)包括 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式； 2  達(dá) 5 個(gè)維度的空間選擇  ARM 內(nèi)置一個(gè)設(shè)計(jì)的可調(diào) Aperture，可以實(shí)現(xiàn) X / Y 方向開口距離調(diào)節(jié)，XY 兩維平面位置平移，及平面內(nèi) θ 方向旋轉(zhuǎn)，準(zhǔn)確抓取 復(fù)雜形貌 的微區(qū)樣品； 3  小 0.5° 角分辨率  ARM 采用特殊優(yōu)化的消色差、消相差光路，能夠?qū)⒔嵌确直媛侍嵘?0.5°，顯著提升光譜分析能力； 4  1.7μm 近紅外拓展 NEW  新一代設(shè)計(jì)的 ARM 重新對(duì)角分辨光路系統(tǒng)進(jìn)行構(gòu)型，* 在近紅外波段 900~1700nm 實(shí)現(xiàn)角分辨光譜測量，對(duì)推動(dòng)光通訊、超表面、激光雷達(dá)等領(lǐng)域研究具有重要價(jià)值； 5  低溫 + 磁場拓展  新一代 ARM 也拓展了對(duì)低溫和磁場環(huán)境的支持，可適配低 2.7K 低溫恒溫器 和 5T 磁場強(qiáng)度 超導(dǎo)磁體； 6  除此之外，ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接，實(shí)現(xiàn)包括時(shí)間分辨、空間相干性、瞬態(tài)光譜采集等功能。
      
     ARM 角分辨光譜儀 技術(shù)起源：角分辨光譜技術(shù)（Angle-resolved Spectroscopy, ARS），誕生于復(fù)旦大學(xué)，是一種 精細(xì)化的光譜技術(shù)?；谠摷夹g(shù)而生的角分辨光譜儀具有在 不同角度下 探測材料光譜性質(zhì)的能力，突破傳統(tǒng)光譜技術(shù)不能分辨角度的局限，是獲取光子材料色散關(guān)系，實(shí)現(xiàn)光學(xué)性質(zhì)“全面表征”的重要且手段，在 微納光子學(xué)、低維材料、發(fā)光材料 等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。