一、天平防震檢測高低溫試驗箱直銷高溫恒溫箱產(chǎn)品用途
產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗,以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進行應(yīng)力篩選試驗。
二、天平防震檢測高低溫試驗箱直銷高溫恒溫箱產(chǎn)品規(guī)格
1.型號YH-100
工作室尺寸:D×W×H 400×500×500 外形尺寸1030×1020×1470
2.型號:YH-150
工作室尺寸:D×W×H 500×500×600 外形尺寸1080×1050×1570
3.型號:YH-225
工作室尺寸:D×W×H 500×600×750 外形尺寸1080×1120×1700
4.型號:YH-800
工作室尺寸:D×W×H 1000×800×1000 外形尺寸1610×1320×1960
5.型號:YH-010
工作室尺寸:D×W×H 1000×1000×1000外形尺寸1610×1560×1960
高低溫(濕熱)試驗箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 *裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 *裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.9A-2009 *裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分:濕熱試驗
三、溫濕度老化箱設(shè)備技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍:-20℃~150℃(A)、-30℃~150℃(B)、-40℃~150℃(C)、-60℃~150℃(D)、-70℃~150℃(E)
2.溫度均勻度:≤±2℃ (空載時)
3.溫度波動度:≤±0.5℃ (空載時)
4.降溫速率:0.7~1.0℃/min
5.升溫速率:1.0~3.0℃/min
6.時間設(shè)定范圍:0~999(H、M、S)
7.電源電壓:380V±10%
8.設(shè)備總功率:3KW~13.5KW