塑料薄膜高頻介電常數(shù)測試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀:GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法
塑料薄膜高頻介電常數(shù)測試儀
一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀的技術指標
1.Q值測量 a.Q值測量范圍:2~1023。 b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
項 目 GDAT-A
頻率范圍 | 20kHz~10MHz; |
固有誤差 | ≤5%±滿度值的2%; |
工作誤差 | ≤7%±滿度值的2%; |
頻率范圍 | 10MHz~60MHz; |
固有誤差 | ≤6%±滿度值的2%; |
工作誤差 | ≤8%±滿度值的2%。 |
電感測量范圍 | 14.5nH~8.14H |
項 目 | GDAT-A |
直接測量范圍 | 1~460pF |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30~500pF, |
精準度 | 150pF以上±1% |
150pF以下±1.5pF; | |
注: | 大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則 |
4.介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍
項 目 GDAT-A:
頻率范圍 | 10kHz~50MHz |
頻率分段 | (虛擬) 10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~60MHz |
頻率指示誤差 | 3×10-5±1個字 |
Q合格指示預置功能 | 預置范圍:5~1000。 |
Q表正常工作條件 | 環(huán)境溫度:0℃~+40℃; |
相對濕度 | <80% |
電源 | 220V±22V,50Hz±2.5Hz。 |
消耗功率 | 約25W; |
凈重 | 約7kg |
外型尺寸 | (l×b×h)mm:380×132×280 |
8.產(chǎn)品配置:a. 測試主機一臺;b. 電感9只;c. 夾具一套
電感:
線圈號 | Q 值 | 測試頻率 | 分布電容p | 電感值 |
9 | 100KHz | 98 | 9.4 | 25mH |
8 | 400KHz | 138 | 11.4 | 4.87mH |
7 | 400KHz | 202 | 16 | 0.99mH |
6 | 1MHz | 196 | 13 | 252μH |
5 | 2MHz | 198 | 8.7 | 49.8μH |
4 | 4.5MHz | 231 | 7 | 10μH |
3 | 12MHz | 193 | 6.9 | 2.49μH |
2 | 12MHz | 229 | 6.4 | 0.508μH |
1 | 25MHz,50MHz | 233,211 | 0.9 | 0.125μH |
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀的詳細資料:
二、 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗測試儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
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