三箱式高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱

 《店鋪內(nèi)所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》

　　三箱式高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T2423.1-2001IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程:低溫試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.2-1989IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程:高溫試驗(yàn)方法

　　GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

　　GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)

　　三箱式高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱性能指標(biāo)： 溫度范圍：A：-40℃～180 B：-55℃～180℃ C：-65℃～180℃

　　高溫區(qū)溫度：上限 200℃

　　低溫區(qū)溫度：下限 比相應(yīng)型號(hào)低5℃

　　溫度波動(dòng)：高溫室及低溫室均≤±2℃(恒溫時(shí))

　　樣品區(qū)溫度波動(dòng)：≤±0.5℃ (恒溫時(shí))

　　東莞冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：

　　為材料研究及工業(yè)生產(chǎn)廠家的批量或者電子電器零部件﹑自動(dòng)化零部件、半成品﹑金屬、化學(xué)材料、通訊元件、國(guó)防工業(yè)、 航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳電子芯片、IC、半導(dǎo)體、陶磁及高分子材料或復(fù)合材料之物理牲變化提供了溫度突變嚴(yán)酷溫度環(huán)境測(cè)試條件,測(cè)試其在瞬間經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)溫度變化環(huán)境下所能忍受的程度，試驗(yàn)其在急遽變化的溫差條件下熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害?？勺鳛槠洚a(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考，及產(chǎn)品可靠性的鑒定測(cè)試。

　　東莞冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)特點(diǎn)

　　分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試;

　　可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件;

　　大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然;

　　全封閉壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);

　　具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷;

　　可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;

　　可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;

　　可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(dòng)(手動(dòng))除霜;

　　東莞冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全。