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IGBT靜態(tài)全參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)ST-SP_X
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2020/2/25 12:46:58
  • 訪問次數(shù)670
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公司簡(jiǎn)介:西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司 是一家專業(yè)從事 半導(dǎo)體功率器件測(cè)試設(shè)備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的*。產(chǎn)品有半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測(cè)試。靜態(tài)單脈沖(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))動(dòng)態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環(huán)境老化測(cè)試(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)熱特性測(cè)試(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各類全系列測(cè)試設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件上游產(chǎn)業(yè)(設(shè)計(jì)、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等元器件的應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈)

半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備
IGBT靜態(tài)全參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,r CE等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測(cè)試精度, 大電流指標(biāo)保證0.5%以內(nèi)重復(fù)測(cè)試精度, 達(dá)到目前國(guó)外進(jìn)口同類產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)水平。
IGBT靜態(tài)全參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

 IGBT靜態(tài)全參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)主要特征簡(jiǎn)述:

1、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀是我公司從國(guó)外引進(jìn)的國(guó)產(chǎn)化項(xiàng)目。產(chǎn)品目前已通過國(guó)內(nèi)兩家計(jì)量站的綜合檢測(cè)認(rèn)定。經(jīng)過與國(guó)內(nèi)其他測(cè)試系統(tǒng)對(duì)比使用,測(cè)試系統(tǒng)在系統(tǒng)硬件的可靠性、穩(wěn)定性、功率范圍、測(cè)試范圍、系統(tǒng)測(cè)試精度、測(cè)試參數(shù)的*性等多項(xiàng)指標(biāo)已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過國(guó)內(nèi)產(chǎn)品。 測(cè)試系統(tǒng)目前是國(guó)內(nèi)優(yōu)質(zhì)的半導(dǎo)體分立器件測(cè)試測(cè)試儀器。

2、作為精密儀器引進(jìn)項(xiàng)目,系統(tǒng)嚴(yán)格按照軍產(chǎn)品之標(biāo)準(zhǔn),全部選用優(yōu)質(zhì)可靠的元器件。系統(tǒng)嚴(yán)格按照軍可用整機(jī)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試檢驗(yàn),確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。所使用的各種繼電器,全部采用國(guó)外公司生產(chǎn)的水銀繼電器,從而大大提高了系統(tǒng)的測(cè)試速度,提高了系統(tǒng)的使用壽命。

3、服務(wù)周到是我公司的優(yōu)勢(shì)之一。選用本系統(tǒng),我們的服務(wù)可以在一小時(shí)內(nèi)答復(fù)解決方案,到達(dá)用戶現(xiàn)場(chǎng)當(dāng)天解決系統(tǒng)出現(xiàn)的所有問題。

4、在實(shí)際操作中,可真實(shí)達(dá)到電壓2000V、電流50A的測(cè)試條件。在極限值條件下測(cè)試,系統(tǒng)同樣保持高精度和良好的重復(fù)性、穩(wěn)定性。此項(xiàng)指標(biāo)遠(yuǎn)遠(yuǎn)*于國(guó)內(nèi)其他產(chǎn)品。

5、本系統(tǒng)測(cè)試原理和方法符合國(guó)家相關(guān)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。

6、大功率器件測(cè)試采用脈沖法測(cè)試,脈沖寬度為規(guī)定的300uS。

7、系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)*,升級(jí)能力強(qiáng)。為用戶今后做系統(tǒng)升級(jí)提供了有力的技術(shù)保障。系統(tǒng)硬件支持電壓升級(jí)到5000V,電流升級(jí)到1250A。

8、系統(tǒng)采用*的嵌入式計(jì)算機(jī)結(jié)構(gòu),可以實(shí)現(xiàn)脫機(jī)測(cè)試功能。提高了系統(tǒng)的可靠性和使用靈活性。

9、系統(tǒng)和測(cè)試夾具全部采用多級(jí)開爾文技術(shù),采用無電纜連接設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。各種測(cè)試夾具均由高級(jí)器件插座和高級(jí)插頭采用開爾文技術(shù)連接裝配,不僅確保長(zhǎng)壽命工作,可靠性*,*使用壽命在5X106次以上。使測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確無誤。

10、系統(tǒng)具有被測(cè)器件引腿接觸自動(dòng)判斷功能。遇到器件接觸不良時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止對(duì)被測(cè)器件測(cè)試,可確保被測(cè)器件不受損壞。

11、真正的動(dòng)態(tài)跨導(dǎo)測(cè)試。(國(guó)內(nèi)其他系統(tǒng)采用直流方法測(cè)動(dòng)態(tài)跨導(dǎo),測(cè)試結(jié)果與器件實(shí)際值偏差很大)。

12、二極管極性自動(dòng)判別測(cè)試功能,不需人工判別極性測(cè)試,方便操作。

13、具有單參數(shù)測(cè)試延時(shí)編程功能,用戶可根據(jù)不同器件要求選擇延遲時(shí)間,增強(qiáng)參數(shù)測(cè)試穩(wěn)定性。

14、豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力,方便的用戶信息文件、統(tǒng)計(jì)文件方式,可以給出批次測(cè)試失效數(shù)量、合格數(shù)量,按實(shí)測(cè)指標(biāo)分類器件數(shù)量。測(cè)試結(jié)果可以給出excel等多種形式。

15、96個(gè)程序步,99種分類。

16、混合參數(shù)編程方式(參數(shù)測(cè)試編程不受器件類別限制),可以對(duì)同一器件選用不同類別器件的參數(shù)進(jìn)行編程,大大的擴(kuò)展系統(tǒng)測(cè)試能力,對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試和分析,軟件使用方便靈活。自動(dòng)/固定量程測(cè)試功能,選用自動(dòng)量程時(shí),系統(tǒng)根據(jù)實(shí)測(cè)范圍自動(dòng)調(diào)整以達(dá)到很高的測(cè)試精度。內(nèi)部設(shè)有可選擇的電流型負(fù)載和阻型負(fù)載。

17、阻型負(fù)載:機(jī)內(nèi)設(shè)有不同阻值的電阻負(fù)載供選擇。

18、電流型負(fù)載:機(jī)內(nèi)設(shè)有不同檔位的恒流源負(fù)載供選擇。

19、用戶可以按照參數(shù)要求,自己設(shè)定參數(shù)自動(dòng)分檔功能,以便把不同參數(shù)的器件自動(dòng)加以區(qū)分、配對(duì)提高器件使用價(jià)值。

20、高速參數(shù)測(cè)試和存儲(chǔ)功能,參數(shù)分析能力。平均每參數(shù)測(cè)試時(shí)間只有1毫秒。

21、在線系統(tǒng)故障判斷修復(fù)能力,便于用戶應(yīng)急處理排除故障。

22、自檢、自校準(zhǔn)功能。系統(tǒng)提供自檢測(cè)試程序和夾具。系統(tǒng)故障自動(dòng)判別到器件級(jí)。自校準(zhǔn)功能可將系統(tǒng)誤差存入內(nèi)置計(jì)算機(jī),不需人工校準(zhǔn)即可實(shí)現(xiàn)精確測(cè)試。

23、錯(cuò)誤信息提示和在線幫助,面板顯示被測(cè)器件不合格參數(shù)和單步實(shí)測(cè)參數(shù)值。在線幫助是在線提示用戶如何簡(jiǎn)便使用該測(cè)試系統(tǒng)。

24、測(cè)試結(jié)果計(jì)算功能,系統(tǒng)可以將任意測(cè)試程序步的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算,形成新的測(cè)試結(jié)果,方便用戶進(jìn)行分析,解決、擴(kuò)展特殊參數(shù)的測(cè)試可以將測(cè)試程序中任意步的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算,形成新的測(cè)試結(jié)果,方便用戶對(duì)器件進(jìn)行分析。

25、單步測(cè)試功能,用于對(duì)單個(gè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)將測(cè)試結(jié)果值在前面板上顯示,方便用戶分析。                                                              

26、測(cè)試結(jié)果分檔功能:用戶可以按照參數(shù)要求,設(shè)定參數(shù)自動(dòng)分檔功能,系統(tǒng)把不同參數(shù)的器件自動(dòng)加以區(qū)分、配對(duì),提高器件使用價(jià)值。

27、機(jī)械手、探針臺(tái)、多終端、可選掃描、多路陣列擴(kuò)展測(cè)試能力。

28、可進(jìn)行實(shí)時(shí)運(yùn)算,允許測(cè)試結(jié)果比較與數(shù)值計(jì)算。

29、功率源選用久經(jīng)驗(yàn)證的電源線路,結(jié)合航天電源設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),在此基礎(chǔ)上形成具有自主產(chǎn)權(quán)的功率源發(fā)明專li技術(shù)。  

30、系統(tǒng)設(shè)計(jì)綜合美國(guó)、日本多種*結(jié)構(gòu)技術(shù)。

31、承諾確保系統(tǒng)使用壽命可以達(dá)到十年以上,系統(tǒng)功能正常,參數(shù)指標(biāo)符合出廠標(biāo)準(zhǔn)。

上述只列出該系統(tǒng)的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發(fā)擴(kuò)大??筛鶕?jù)用戶測(cè)試使用的要求,方便地選通其他特征。

天光測(cè)控-IGBT靜態(tài)全參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

 絕緣柵晶體管、IGBT測(cè)試參數(shù)及精度

電參數(shù)名稱

電壓范圍

電流范圍

分辨率

精度

ICES   

IGESF

IGESR

0.10V- 2000V

0.10V - 20V(80V)(2)

100nA(100pA)(1)

- 50mA

100nA(100pA)(1)- 3A

1nA(50pA)(1)

1%+10nA+20pA/V

(1%+200pA+2pA/V)(1)

BVCES

0.1V-1000V- 1400V

- 1600V

100μA - 200mA

   -100mA       

   -50mA

5mV

1%+100mV

VGETH

0.10V- 20.0V(80V)(2)

100nA- 3A

5mV

1%+10mV

VCESAT

ICON

VGEON

VF

GFS(混合參數(shù))

VCE: 0.10V- 5.00V

- 9.99V

VGE、VF:

0.10V - 9.99V

IC: 10μA-1250A

       - 1250A

IGE、IF:  

100nA - 10A

5mV

V: 1%+10mV

IC,IF:  1%+100nA

IGE: 1%+5nA

 

(1)    需要選件

(2)    需要柵極80V選件

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