美國泰克TEK371A晶體管測試儀

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無線電

美國泰克TEK371A晶體管測試儀
主要參數(shù)：·半導體器件高精度測量
上限達2000V或電流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的測量分辨率（370A）

·波形對比

·包絡顯示

·波形平均

·點光標（370A）

·Kelvin傳感測量

·全程控

·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調(diào)用

應用

手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量

來料檢查

生產(chǎn)測試

過程監(jiān)視及質(zhì)量控制

數(shù)據(jù)報告的生成

元件配對

失效分析

工程測試

交互式程控

所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包

括370A的非易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

測試夾具

測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通

過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

370A程控特性曲線圖示儀

370A是*的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅

、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。

在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作

在制造過程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。

370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。

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