ZEISS Sigma場發(fā)射掃描電子顯微鏡

   　　ZEISS Sigma系列產(chǎn)品

　　用于高品質(zhì)成像與高級分析的蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡

　　靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

　　將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

　　Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)果。

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　　靈活的檢測器選項，獲取清晰圖像

　　使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

　　使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

　　使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

　　使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

　　用戶友好,操作簡單

　　SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面。

　　它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

　　基于實際的實驗室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領域。

　　但是，非專業(yè)用戶(例如學生，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

　　特點：

　　用于清晰成像的靈活探測

　　利用*探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

　　利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

　　利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

　　自動化加速工作流程

　　4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

　　首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

　　接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步，將結(jié)果可視化。

　　高級分析型顯微鏡

　　將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

　　在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

　　獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。