1. 系統(tǒng)配置:Acer 商用計(jì)算機(jī),信號(hào)切換與控制系統(tǒng),生產(chǎn)光學(xué)元器件廠家低溫儀及溫控系統(tǒng),四通道夾具,液氮罐、測(cè)試與數(shù)據(jù)采集軟件(軟件兼容同惠 LCR 表以及是德(安捷倫)E4980AL 型 LCR 表和 4294A 型阻抗分析儀);
2. 輸入端口:四個(gè) BNC 端口;
3. 輸出端口:10 個(gè) SMA 輸出端口,需采用 SMA 接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz 時(shí));
4. 溫度范圍:-170℃ 至 220℃(額定溫區(qū),長(zhǎng)時(shí)間使用溫度),-185℃ 限溫區(qū),短時(shí)間使用);
5. 系統(tǒng)屏蔽:通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì),連接線材采用射頻同軸線,以保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性;
6. 測(cè)試夾具:融石英與探針復(fù)合結(jié)構(gòu)夾具,探針需使用鈹銅鍍金材料以保證長(zhǎng)期測(cè)試穩(wěn)定性;
7. 同時(shí)測(cè)量樣品數(shù):4 個(gè);
8. 測(cè)試液氮用量:一次測(cè)試液氮使用小于 1L;
9. 測(cè)試頻率范圍:20Hz 至 5 MHz,基本準(zhǔn)確度 0.05%;
10. 升溫速率:升溫速率 1-10℃/min,測(cè)溫精度±0.1℃
11. 測(cè)試樣品直徑:2 mm 至 25 mm;
12. 樣品厚度:0.02 mm 至 4 mm;
13. 單樣品測(cè)試頻率數(shù):最少 6 個(gè)頻率測(cè)量功能;
14. 變溫介電頻譜測(cè)試功能;
15. 變溫阻抗測(cè)試功能;
16. 掃頻測(cè)試功能。