◆產(chǎn)品名稱:大理石光學(xué)平臺(剛性支架)
◆產(chǎn)品型號:CPPT-D
◆產(chǎn)品應(yīng)用:適合于光通訊、電子制造、科研、科研院校、顯微鏡、光路測試、光學(xué)測量、激光干涉、激光掃描、光譜實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域應(yīng)用
◆產(chǎn)品特點(diǎn):
☆臺面材料采用健康型天然大理石平臺代替原有的鋼結(jié)構(gòu)平臺,其明顯優(yōu)點(diǎn)是平面度好、質(zhì)量大、穩(wěn)定性好、耐腐蝕性強(qiáng)
☆平面度很高,臺面有00級,0零可以選擇,
☆抗壓強(qiáng)度大于等于245mpa,抗彎強(qiáng)度22kn/mm2,肖氏硬度大于HS70,吸水率小于0.25%,
☆大理石平板工作面硬度應(yīng)均勻且工作面各部位肖氏硬度應(yīng)在HS70 以上
☆大理石平板工作面的表面粗糙度平均偏差Ra值應(yīng)達(dá)到0.32~0.63μm,側(cè)面的表面粗糙度平均偏差Ra 值應(yīng)小于10μm
☆大理石平板工作面與側(cè)面以及相鄰兩側(cè)面的垂直度公差為 12 級
☆對采用對角線法或網(wǎng)格法檢驗(yàn)大理石平板工作面平面度時,應(yīng)檢驗(yàn)其平面波動量
☆可根據(jù)不同規(guī)格接受特殊化定制