NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測(cè)試進(jìn)行高精確度的測(cè)量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測(cè)試（例如柱壓縮）方面表現(xiàn)優(yōu)異，可以將SEM圖像與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測(cè)量迅速，這對(duì)于惰性環(huán)境（例如手套箱）中測(cè)試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件，例如InForce50電磁驅(qū)動(dòng)器，可以提供定量結(jié)果，從而為材料研究提供有價(jià)值的解決方案。
產(chǎn)品詳細(xì) 主要應(yīng)用 提供選項(xiàng) 相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測(cè)試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測(cè)試方法，涵蓋一系列測(cè)試協(xié)議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測(cè)試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°，無(wú)需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測(cè)試的無(wú)縫過(guò)渡。
主要功能
InForce 50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)
SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
*的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能
主要應(yīng)用
硬度和模量測(cè)量（Oliver-Pharr）
連續(xù)剛度測(cè)量
高速材料性質(zhì)分布圖
ISO 14577硬度測(cè)試
聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）
定量刮擦和磨損測(cè)試
工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
支柱和微球制造
MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）
材料制造（結(jié)構(gòu)壓縮/拉伸/斷裂測(cè)試）
電池和元件制造
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