NaioAFM原子力顯微鏡 電子顯微鏡

● 一體化的即插即用的微型原子力顯微鏡（AFM）
● 使用簡單，
● 所有的標(biāo)準(zhǔn)操作模式都可用

NaioAFM 是納米教學(xué)和小樣品基礎(chǔ)研究的理想原子力顯微鏡。 一體化的微型NaioAFM原子力顯微鏡提供了優(yōu)質(zhì)可靠的性能卻操作方便，價格親民，結(jié)構(gòu)小巧，適合于任何人和任何場合。

幾分鐘內(nèi)就可以開始測量

使用NaioAFM原子力顯微鏡, 僅需插上電源和USB線，啟動界面友好的軟件，幾分鐘內(nèi)就可以開始工作，省掉了儀器設(shè)置的時間和麻煩，觀看我們的OVERVIEW 視頻你就可以知道。 因為NaioAFM帶有懸臂校準(zhǔn)芯片，探針更換也變得更加簡單，繁瑣的激光調(diào)節(jié)也不再需要。 觀看懸臂更換視頻你就可以發(fā)現(xiàn)換針是如此的方便。

NaioAFM 成像模式

以下描述為儀器所具備的所有模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽宣傳冊或直接聯(lián)系我們。

●標(biāo)準(zhǔn)成像模式

靜態(tài)力模式

動態(tài)力模式(輕敲模式)

相位成像模式

●磁性能

磁力顯微

●電性能

導(dǎo)電探針 AFM (C-AFM)

靜電力顯微 (EFM)

掃描擴散電阻顯微(SSRM)

●機械特性

力譜

力調(diào)制

剛度和模量

附著力

力映射

●其它測量模式

光刻和納米加工

NaioAFM的應(yīng)用示例

聚合物混合物的 AFM 相位成像

這是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉積在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)組成。PS 在 PB 矩陣中形成孤島。

用AFM進行ePTFE膜表面形貌分析

ePTFE是膨脹聚氟乙烯的縮寫，也稱為Teflon。它的機械和醫(yī)學(xué)特性很大程度上取決于Teflon是如何膨脹的(單軸或雙軸)以及由此產(chǎn)生的ePTFE網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。 ePTFE由于其在人體內(nèi)的惰性特性，常被用作植入材料。網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)中的空隙鼓勵軟組織生長到這樣的植入體中，這有助于快速地保持植入體的位置。聚四氟乙烯有許多不同的膨脹方式，都會導(dǎo)致不同的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。因此，至關(guān)重要的是要驗證在膨脹過程之后是否獲得了所需的ePTFE結(jié)構(gòu)。

在此應(yīng)用中，我們使用AFM對ePTFE膜進行了分析。所記錄的形貌圖像清楚地顯示了樣品復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。利用集成在Nanosurf控制軟件中的測量工具，可以方便地分析纖維的長度和結(jié)的尺寸分布。與傳統(tǒng)的分析方法-掃描電鏡成像法SEM相比，金膜必須首先在真空中蒸發(fā)到 ePTFE 樣品上,使其導(dǎo)電才能進行操作 - 用AFM 則快得多，也更容易執(zhí)行。使用AFM,可以直接在ePTFE上測量,無需事先對樣品進行處理。此外,與 SEM 數(shù)據(jù)相比,AFM 形貌圖實際上包含定量的深度信息。

AFM 力譜儀用于聚合物分析

裝有AFM的力譜儀可以對聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物進行表征.數(shù)據(jù)分析或一組力距離曲線揭示了這兩種成分材料性能的差異。

PS-PB聚合物樣品的不同區(qū)域的力-距離曲線。 頂部和底部面板分別顯示 PB(頂部)和 PS(底部)上記錄的力距離曲線。中圖中的形貌圖像中的箭頭指示記錄力距離曲線的位置。如頂圖所示,可以從力距離曲線中提取不同的信息:接觸區(qū)域的斜率、樣品壓痕、附著力,以及分離所需的功。斜率本身是樣品剛度的粗略估計,即 PB 比 PS 軟得多,因為接觸區(qū)域的斜率較淺(參見紅色三角形)。使用接觸力學(xué)模型(如 DMT 模型)分析力距離曲線可顯示樣品的實際剛度。