角分辨光譜系統(tǒng)

角分辨光譜儀AR 采用智能化的自動旋轉(zhuǎn)設(shè)計，分別調(diào)節(jié)入射和出射方向，實現(xiàn)對待測樣品不同角度的光譜測量。目前，角分辨光譜測量模式有：上反射、下反射、透射、散射、輻射、自由模式和編程模式。

角分辨光譜系統(tǒng)

AR角分辨光譜儀測量范圍為250~2500 nm，內(nèi)置氘燈/鹵素?zé)艄庠矗c外控制器連接，分束鏡選用Polka，考慮到色差因素，光路設(shè)計*，可集成Fluorite石英透鏡消除色差。

典型應(yīng)用

角分辨光譜測量主要應(yīng)用于光子晶體、超材料、光柵、結(jié)構(gòu)色、超晶格材料、微納光學(xué)、納米材料、LED液晶材料等光學(xué)特性的表征。

1、薄膜光譜：該系列樣品具有能帶結(jié)構(gòu)，在光譜呈現(xiàn)方面不同，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有精確的角度分辨能力；

2、SPP/SPR：表面等離子體的光譜比較敏感，對角度依賴性較強，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有寬泛的光譜測量波段和精確的角度分辨能力；

3、meta-material：在不同偏振態(tài)下，待測樣品的光譜特性不同，因此需要光譜測量系統(tǒng)具有各偏振的分辨能力。

典型案例

光柵角分辨光譜

從圖中可以看出，光柵樣品的角分辨光譜具有一個正常色散能帶和一個反常色散能帶。Y軸為光柵樣品的衍射光譜與白板散射光譜的比值。

產(chǎn)品特點

1、角度測量范圍覆蓋0~360°全角度測量；

2、波段范圍涵蓋250~2500 nm寬譜段測量；

3、多維度精細(xì)調(diào)節(jié)，適合樣品的多樣性測量；

4、適配多波段偏振器件、濾光片等光學(xué)元件，可加載旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)支架，便于調(diào)劑。

5、配置高精度電機，角度重復(fù)精度±0.05°，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的角度定位，滿足各種角度的設(shè)置需求。

6、外部可新增Laser光源接口，使得AR測量可拓展到角分辨熒光光譜領(lǐng)域。

軟件界面