賽默飛 ARL X TRA Powder 衍射儀熒光光譜儀用高分辨率粉末X射線衍射（XRD）獲得較好的樣品數(shù)據(jù)。提供對多晶材料的結(jié)構(gòu)、相和化合物的定性和定量分析。這種*的系統(tǒng)可以定制用于學(xué)術(shù)研究、化學(xué)、醫(yī)藥、聚合物、半導(dǎo)體、金屬和礦物等領(lǐng)域的薄膜和小樣品的低溫和高溫、非環(huán)境氣氛下的相變和結(jié)構(gòu)研究。
賽默飛 ARL X TRA Powder 衍射儀熒光光譜儀粉末XRD是鑒定和表征多晶材料晶體學(xué)、多晶結(jié)構(gòu)、相和結(jié)晶度變化的的技術(shù)之一。對于覆蓋無機(jī)和有機(jī)多晶材料的大范圍應(yīng)用來說，易溶性、較高的衍射強(qiáng)度和高的分辨率。
推薦用于
-識(shí)別未知樣品中的單個(gè)或多個(gè)相。
- Quantification已知混合物的相。
晶體學(xué)-解決晶體結(jié)構(gòu)。
-非環(huán)境分析-晶體結(jié)構(gòu)隨溫度、壓力或氣體環(huán)境的變化。
表面和薄膜分析。
-紋理和應(yīng)力分析。
主要特征-根據(jù)分析類型或樣品，系統(tǒng)可以容易地使用預(yù)先對準(zhǔn)的即插即用附件重新配置，如溫度室、平行光束光學(xué)器件和傳輸級(jí)。
圍繞半徑為260mm的垂直θθ測角儀
-方便的幾何形狀，便于粉末樣品分析，樣品更換器的選擇和使用特殊的樣品保持器；
-可拆卸的雙Soller狹縫和連續(xù)可變微米控制的狹縫，用于調(diào)節(jié)入射光束和衍射光束的寬度。
*技術(shù)
ARL X TRA Powder 衍射儀熒光光譜儀WINXRD軟件在Windows 7下運(yùn)行，作為一個(gè)多任務(wù)32位數(shù)據(jù)收集和分析軟件包。
用于高計(jì)數(shù)率調(diào)諧的珀耳帖冷卻Si（Li）固態(tài)探測器
-與閃爍探測器相比，分辨率更高，消除了K-β和熒光輻射，從而消除了對濾波器和單色儀的需要
所得衍射峰強(qiáng)度基本上高于其他可用配置。
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