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Sphere-3000光學(xué)元件反射率測量儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/8/4 15:22:26
  • 訪問次數(shù)462
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測方案,2014年被認(rèn)定為*。公司擁有強(qiáng)大的研發(fā)、銷售團(tuán)隊,擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號,2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機(jī)構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證。
標(biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠服務(wù)”的企業(yè)核心價值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計及電路設(shè)計為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團(tuán)隊基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競爭力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測儀、透過率檢測儀、珠寶檢測儀、近紅外光譜檢測儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測厚儀、微量紫外分光光度計、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點,將“中國創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項產(chǎn)品的開發(fā)中,實現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進(jìn)步、市場需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級改造,實現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動力,將中國創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

同時,標(biāo)旗也是許多科技裝備企業(yè)在國內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

標(biāo)旗秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對客戶的需求,量身定制光譜檢測應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺,向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶。

科技的發(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進(jìn)步與時代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測道路上不斷前行,臻于至善。

光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀,反射率測試儀
Sphere-3000光學(xué)元件反射率測量儀
Sphere-3000光學(xué)元件反射率測量儀 產(chǎn)品信息

Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測量儀

 

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

 

Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-特點:

Ø         顯微測定微小領(lǐng)域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區(qū)域(φ60μm

Ø         CIE顏色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

Ø         檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

Ø         消除背面反射光 無需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測定表面反射率

 

Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-技術(shù)參數(shù)

型號

Sphere-3000I型)

Sphere-3000III型)

檢測范圍

380~800nm

360~1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

相對檢測誤差

1%

0.5%

測定方法

與標(biāo)準(zhǔn)物比較測定

被測物再現(xiàn)性

±0.1%以下(2σ)        380nm~410nm                                                    ±0.05%以下(2σ)      (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)

(380nm~410nm)                                                    ±0.05%以下(2σ)

          (410nm~1100nm)

單次測量時間

1s

精度

0.3nm

被測物N.A.

0.12(使用10×對物鏡時)                                                                                  0.24(使用20×對物鏡時)                                                                                   

被測物尺寸

直徑>1mm

厚度>1mm(使用10×對物鏡時)

厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)

被測物

測定范圍

φ60μm(使用10×對物鏡時)                                                                            φ30μm(使用20×對物鏡時)

設(shè)備重量

15kg(光源內(nèi)置)

設(shè)備尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用環(huán)境

 水平且無振動的場所

溫度:23±5;

        濕度:60%以下無結(jié)露;

操作系統(tǒng)

Windows XP, Windows VistaWin7

軟件

分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定

尺寸

480*400*580mm

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