顯微鏡特點：
EOC新推出的微分干涉相襯（DIC）作為一種特殊的分析檢驗方法，
所觀察到的樣品的相對層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀、對顆粒、裂紋、
孔洞以及凸起等能做出正確的判斷，能夠判斷許多明場下所看不到的或難于
判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，是LCD液晶屏行業(yè)導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查、
晶圓研磨表面，磁頭研磨表面及硬盤表面檢測等行業(yè)的理想工具。
應(yīng)用領(lǐng)域：
BA310DIC顯微鏡是定向適用于LCD生產(chǎn)領(lǐng)域主要運用于導(dǎo)電粒子爆破觀察，
ITO工藝檢測玻璃切割面檢測等。采用德國光學(xué)設(shè)計，配置長距物鏡，
自主研發(fā)的DIC觀察組，可以干涉成像中清晰的觀察到粒子開口狀態(tài)，
廣泛使用在TFT/TP/LCM行業(yè)。
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