掃描隧道顯微鏡-NanoFirst-1000特點(diǎn):
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光，最后接受信號(hào)經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測(cè)量，三維顯示。
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
掃描隧道顯微鏡-NanoFirst-1000技術(shù)指標(biāo):
STM探頭
樣品尺寸：厚度小等于15mm。
XY掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm
Ｚ向分辨率：0.01nm(HOPG定標(biāo))
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm
樣品-針尖白光照明
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(自動(dòng)保護(hù)針尖)
全金屬屏蔽防震隔音箱（選配）
精密隔震平臺(tái)（選配）
掃描隧道顯微鏡-NanoFirst-1000電子學(xué)控制器:
| XYZ控制 | 18-Bit D/A |
| 數(shù)據(jù)采樣 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 |
| Z向反饋 | DSP數(shù)字反饋 |
| 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
| 高壓放大器 | 集成高壓運(yùn)算放大器，電壓范圍+/-150V |
| 頻率范圍 | --- |
| 幅度范圍 | --- |
| 掃描速率 | 21Hz |
| 掃描角度 | 0-360度連續(xù)可調(diào) |
| 掃描偏移 | 任意 |
| 圖像采樣點(diǎn) | 256X256或512X512 |
| 步進(jìn)馬達(dá)控制 | 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 |
| 計(jì)算機(jī)接口 | 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB |
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