X-Strata920表面鍍層測厚儀
是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng),用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
功能特性:
- 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
- 可完成至多4層鍍層(另加底材)和25個元素的鍍層厚度測試,自動修正X射線重疊譜線
- 的多元素辨識,廣泛覆蓋元素表上從鈦(原子序數(shù)22號)到鈾(92號)各元素
- 測厚行業(yè)35年知識和經(jīng)驗的積淀
X-Strata920表面鍍層測厚儀
是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng),用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
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